[发明专利]晶体管模块疲劳寿命确定方法、装置和计算机设备

权利要求书

1.一种晶体管模块疲劳寿命确定方法，所述方法包括：

获取晶体管模块的饱和压降，所述晶体管模块的饱和压降通过饱和压降检测电路得到，所述晶体管模块在不同的电流载荷下，具有不同的饱和压降，所述饱和压降为当晶体管达到饱和导通时晶体管集电极与发射极之间的电位差；

查询所述晶体管模块对应预设的基于饱和压降的疲劳寿命预测模型，所述疲劳寿命预测模型根据所述晶体管模块在不同载荷下的拟合疲劳寿命得到，所述疲劳寿命预测模型用于确定饱和压降与模块疲劳寿命之间的对应关系；

将所述饱和压降输入所述疲劳寿命预测模型中，得到所述晶体管模块的疲劳寿命。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述查询所述晶体管模块对应预设的疲劳寿命预测模型之前，还包括：

对所述晶体管模块施加不同的载荷，得到所述晶体管模块在不同的载荷下分别对应的应力应变分布；

根据所述应力应变分布确定所述晶体管模块的应力应变状态；

根据所述应力应变状态，查询所述晶体管模块对应的应力应变疲劳曲线，得到所述晶体管模块的拟合疲劳寿命；

根据各所述拟合疲劳寿命，得到所述疲劳寿命预测模型。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述晶体管模块施加不同的载荷，得到所述晶体管模块在不同的载荷下分别对应的应力应变分布包括：

根据所述晶体管模块的几何参数，构建所述晶体管模块的有限元模型；

对所述晶体管模块施加不同的载荷，通过电热结构耦合计算，确定所述晶体管模块在不同的载荷下分别对应的应力应变分布。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述应力应变分布确定所述晶体管模块的应力应变状态包括：

确定所述晶体管模块的屈服强度；

当根据所述应力应变分布，确定所述晶体管模块的最大应力大于所述屈服强度时，确定所述晶体管模块处于应变疲劳状态；否则，确定所述晶体管模块处于应力疲劳状态。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述应力应变疲劳曲线包括应变疲劳曲线和应力疲劳曲线；所述根据所述应力应变状态，查询所述晶体管模块对应的应力应变疲劳曲线，得到所述晶体管模块的拟合疲劳寿命包括：

当所述晶体管模块处于应变疲劳状态时，查询所述应变疲劳曲线，并根据所述应变疲劳曲线，确定所述晶体管模块的拟合应变疲劳寿命，所述拟合疲劳寿命包括所述拟合应变疲劳寿命；

当所述晶体管模块处于应力疲劳状态时，查询所述应力疲劳曲线，并根据所述应力疲劳曲线，确定所述晶体管模块的拟合应力疲劳寿命，所述拟合疲劳寿命包括所述拟合应力疲劳寿命。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述根据所述应力应变状态，查询所述晶体管模块对应的应力应变疲劳曲线，得到所述晶体管模块的拟合疲劳寿命之前，还包括：

对所述晶体管模块进行疲劳寿命测试，得到所述晶体管模块对应的测试疲劳曲线；

根据预设的工艺条件，对所述测试疲劳曲线进行调整，得到所述应力应变疲劳曲线。

7.根据权利要求2至6任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据各所述拟合疲劳寿命，得到所述疲劳寿命预测模型包括：

根据各所述载荷，确定所述晶体管模块分别对应的饱和压降；

根据所述晶体管模块的饱和压降，与所述各所述拟合疲劳寿命之间的对应关系，得到所述疲劳寿命预测模型。