[发明专利]一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置和方法

权利要求书

1.一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置，其特征在于，包括：

短波红外标准辐射源、InGaAs短波红外成像仪、上位机检测分析系统及上位机成像校正系统；

所述短波红外标准辐射源作为校正光源，提供校正用的短波红外光；

所述InGaAs短波红外成像仪与上位机相连，接收光信号并将其转换为数据，最终传至上位机；

所述上位机检测分析系统与InGaAs短波红外成像仪相连，采集传至上位机的校正用图像数据，分析计算非均匀校正、盲元补偿、中值滤波和灰度限幅拉伸要用的参数，然后将其保存至InGaAs短波红外成像仪的FLASH存储单元；

所述上位机成像校正系统也与InGaAs短波红外成像仪相连，采集传至上位机的原始图像数据，读取校正用的参数，对原始图像数据进行校正处理；

所述短波红外标准辐射源为带短波红外光源的积分球，积分球是一个内壁涂有漫反射材料的空腔球体，能够将光源发出的光线通过漫反射变为均匀的光，保证入射到InGaAs短波红外成像仪的光线是均匀的，相对于黑体来说其发热量小，光线更为均匀；

所述InGaAs短波红外成像仪为基于面阵InGaAs短波红外焦平面探测器的面阵凝视型短波红外成像仪，响应波长范围0.9μm-1.7μm，检测分析时接收短波红外标准辐射源发出的光信号并转换为电信号，最终输出校正用图像数据至上位机；

成像校正时接收景物反射短波红外光转换为电信号，最终输出原始图像数据至上位机；

所述上位机检测分析系统包括校正用数据采集模块、参数计算模块及参数存储模块；

所述校正用数据采集模块采集InGaAs短波红外成像仪传至上位机的校正用图像数据并缓存，为下一步参数计算做好准备；

所述参数计算模块读入缓存在校正用数据采集模块的校正用图像数据，分别计算盲元补偿、非均匀校正、中值滤波和灰度限幅拉伸所用的参数；

所述参数存储模块将焦平面像元的总行数和总列数M和N、盲元的位置、盲元的数量n、所有有效像元的响应率不均匀性、所有盲元的上下左右邻域的平均响应和四角邻域的平均响应所有盲元的有效邻域像元个数、十字盲元的位置、灰度限幅的阈值R_th和灰度拉伸的系数s依次分区存储至InGaAs短波红外成像仪的FLASH存储单元中。

2.如权利要求1所述的一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置，其特征在于，还包括：

所述盲元补偿的参数分析计算首先计算盲元补偿参数的前提是需要确定哪些像元是盲元，使用InGaAs短波红外成像仪分别在无光源的黑暗环境下和以短波红外标准辐射源为校正光源的条件下采集校正用图像数据，基于这些数据分别计算两种情况下不考虑盲元的平均响应率：

其中M,N分别为焦平面像元的总行数和总列数；

记无光源的黑暗环境下校正用图像数据求得的不考虑盲元的平均响应率为，记以短波红外标准辐射源为校正光源的高亮环境下校正用图像数据求得的不考虑盲元的平均响应率；则判定满足以下条件的像元为有效像元，不满足条件的则为盲元：

判定完盲元和有效像元后，将焦平面像元的总行数和总列数M和N、盲元的位置和盲元的数量n记录下来。

3.如权利要求1所述的一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置，其特征在于，还包括：

所述非均匀校正参数的分析计算首先非均匀校正针对的是有效像元，因此判定完盲元之后，首先根据高亮环境下校正用数据计算有效像元的平均响应率：

然后根据求得的有效像元平均响应率计算各有效像元的响应率不均匀性：

记录所有有效像元的响应率不均匀性。