[发明专利]换流阀测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种换流阀测试系统，其特征在于，包括：

触发信号控制设备，与阀基电子设备连接，用于控制所述阀基电子设备输出光触发信号，其中，所述光触发信号用于触发待测晶闸管级导通，所述待测晶闸管级为待测换流阀中的任意一个晶闸管级；

换流阀测试设备，采用接触式的方式与所述待测晶闸管级连接，用于向所述待测晶闸管级的两端施加测试电压信号，以及采集所述待测晶闸管级的正向导通电压信号和/或反向阻断电压信号，根据采集到的正向导通电压信号和/或反向阻断电压信号，确定所述待测晶闸管级是否损坏；

其中，所述换流阀测试设备包括：测试手柄，所述换流阀测试设备通过测试手柄与所述待测晶闸管级接触连接；

所述阀基电子设备通过触发光纤向所述待测晶闸管级发送光触发信号；所述待测晶闸管级通过回报光纤向所述阀基电子设备返回光回报信号，所述光回报信号用于表征所述待测晶闸管级正向导通电压高于第一电压阈值和/或反向阻断电压低于第二电压阈值；

其中，所述触发信号控制设备包括：第一控制单元和信号发生单元；其中，所述信号发生单元与所述阀基电子设备连接，所述第一控制单元与所述信号发生单元连接，用于控制所述信号发生单元产生符合所述阀基电子设备电压的模拟极控信号，所述阀基电子设备根据所述信号发生单元产生的模拟极控信号输出光触发信号；

其中，所述换流阀测试设备包括：波形发生单元、波形采集单元、第二控制单元和显示单元；其中，所述波形发生单元与所述待测晶闸管级连接，用于向所述待测晶闸管级产生预定频率的测试电压信号；所述波形采集单元与所述待测晶闸管级连接，用于采集所述待测晶闸管级的正向导通电压信号和/或反向阻断电压信号；所述第二控制单元与所述波形采集单元连接，用于对所述波形采集单元采集到的信号进行处理，得到测试结果；所述显示单元与所述第二控制单元连接，用于输出所述测试结果；

其中，所述第一控制单元为FPGA芯片；第二控制单元为STM32单片机；

还包括：触发信号控制设备和换流阀测试设备配合，实现对晶闸管级阻尼回路参数测试，将所述待测晶闸管级的阻尼回路中的高电位板卡短路的情况下，测量所述待测晶闸管级阻尼回路的阻尼参数，其中，所述高电位板卡用于将所述阀基电子设备的光触发信号转换为电触发信号以触发所述待测晶闸管级。

2.一种换流阀测试方法，其特征在于，该方法应用于权利要求1所述的换流阀测试系统，包括：

在所述换流阀测试设备向所述待测晶闸管级两端施加的测试电压信号为正电压的情况下，通过所述触发信号控制设备控制所述阀基电子设备输出光触发信号；

通过所述换流阀测试设备采集所述待测晶闸管级的正向导通电压信号和/或反向阻断电压信号，并根据采集到的正向导通电压信号和/或反向阻断电压信号，确定所述待测晶闸管级是否损坏。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在将所述待测晶闸管级的阻尼回路中的高电位板卡短路的情况下，测量所述待测晶闸管级阻尼回路的阻尼参数，其中，所述高电位板卡用于将所述阀基电子设备的光触发信号转换为电触发信号以触发所述待测晶闸管级。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

检测所述待测晶闸管级是否被阀基电子设备触发；

在所述待测晶闸管级被阀基电子设备触发的情况下，确定所述阀基电子设备的光触发功能和触发回路均正常。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

检测所述阀基电子设备是否接收到来自所述待测晶闸管级的光回报信号；

在所述阀基电子设备接收到来自所述待测晶闸管级的光回报信号的情况下，确定所述阀基电子设备的回报回路正常。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述阀基电子设备包括：指示灯，其中，在所述阀基电子设备接收到来自所述待测晶闸管级的光回报信号的情况下，所述指示灯闪烁。