[发明专利]超硬激光晶体表面粗糙度的加工方法有效
申请号: | 201910000512.0 | 申请日: | 2019-01-02 |
公开(公告)号: | CN109590820B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 程鑫;魏朝阳;邵建达;曹俊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 晶体 表面 粗糙 加工 方法 | ||
1.一种超硬激光晶体表面粗糙度加工方法,其特征在于该方法包括以下步骤:
1)检测研磨用四种规格磨料的粒径,记录180#/240#/320#/500#磨料的最大粒径;
2)采用180#磨料,利用单轴机对晶体元件进行研磨,去除1-2mm,然后分别用240#、320#、500#磨料依次对晶体元件进行研磨,后一道磨料研磨的去除量至少为前一道磨料最大粒径的2倍,经过500#磨料研磨后,超声清洗,利用触针式轮廓仪检测元件表面,若表面粗糙度小于20nm,则进入下一步工序;若表面粗糙度大于20nm,则继续用500#磨料进行研磨直至表面粗糙度小于20nm;
3)在抛光液中加入1~5%体积比的抛光助剂,超声混合均匀构成混合抛光液以对晶体元件进行抛光,首先利用单轴机对晶体元件进行快速抛光,超声清洗后检测,直至表面粗糙度小于10nm,然后利用环抛机对晶体元件进行精密环形抛光,超声清洗后检测,直至表面粗糙度小于0.3nm,所述抛光液为氧化铝抛光粉抛光液或金刚石微粉抛光液,中位粒径均小于1微米;所述的抛光助剂为重铬酸钠;
所述的晶体元件是指Nd:YAG晶体,且莫氏硬度达到8.5。
2.根据权利要求1所述的超硬激光晶体表面粗糙度加工方法,其特征在于,所述步骤1)和步骤2)中研磨用的磨料为碳化硅、金刚砂或碳化硼。
3.根据权利要求2所述的超硬激光晶体表面粗糙度加工方法,其特征在于,所述步骤1),所述的180#碳化硅最大粒径100μm,240#碳化硅最大粒径70μm,320#碳化硅最大粒径50μm,500#碳化硅粒径25μm。
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