[发明专利]用于探测受过程影响或在该过程期间形成的目标物体的传感器设备

权利要求书

1.一种用于探测受过程(10)影响或在所述过程(10)中形成的目标物体(20)的传感器设备(100)，

所述传感器设备(100)包括传感器单元(110)和评估装置(130)，

其中所述传感器单元(110)被构造成探测在所述传感器单元(110)的探测区域(118)中的所述目标物体(20)并且生成能够受所述目标物体(20)影响的传感器信号(150)，

其中所述评估装置(130)被构造成将所述传感器信号(150)处理为第一输入变量并且根据所述传感器信号(150)生成输出信号(154)，该输出信号(154)指示对所述目标物体(20)的所述探测，

其中所述评估装置(130)被构造成将作用在所述目标物体(20)上的所述过程(10)的过程参数(12)和/或表征所述目标物体(20)并受所述过程(10)影响的目标物体参数(136)处理作为相应的另外输入变量，

其中所述评估装置(130)被构造成根据所述过程参数(12)和/或所述目标物体参数(136)生成所述输出信号(154)，

其中所述传感器设备(100)被构造成在所述目标物体(20)处于运动中的同时探测所述目标物体(20)，

其中所述评估装置(130)被构造成根据所述传感器信号(150)的时间展开生成所述输出信号(154)，

其中所述过程参数(12)作用在所述目标物体(20)上，其中所述过程参数(12)影响所述目标物体(20)在所述传感器单元(110)的所述探测区域(118)中的运动序列。

2.根据权利要求1所述的传感器设备(100)，

其中所述评估装置(130)被构造成将所述过程(10)的直接过程数据(14)处理作为所述过程参数(12)。

3.根据权利要求2所述的传感器设备(100)，

其中所述直接过程数据(14)选自由如下各者构成的组：所述目标物体(20)的位置、所述目标物体(20)的取向、机加工所述目标物体(20)的分离装置的切割气体压力、机加工所述目标物体(20)的工具的转数、移动所述目标物体(20)的驱动器的速度、移动所述目标物体(20)的驱动器的转矩或者所述目标物体(20)从所述过程(10)排出的时间点。

4.根据前述权利要求1至3中任一项所述的传感器设备(100)，

其中所述传感器设备(100)包括预处理单元(120)，

其中所述预处理单元(120)被构造成从所述过程(10)的至少一个直接过程数据(14)导出所述过程参数(12)和/或所述目标物体参数(136)作为间接过程参数(15)和/或作为间接目标物体参数并且将其供应到所述评估装置(130)。

5.根据权利要求4所述的传感器设备(100)，

其中所述间接过程参数(15)选自由如下各者构成的组：在所述过程(10)期间所述目标物体(20)相对于所述传感器单元(110)的距离或位置或取向、在所述过程(10)期间作用在所述目标物体(20)上的力的大小或者在所述过程(10)期间其中力作用在所述目标物体(20)上的目标区域。

6.根据前述权利要求1至3中任一项所述的传感器设备(100)，

其中所述目标物体参数(136)代表所述目标物体(20)的几何性质。

7.根据前述权利要求1至3中任一项所述的传感器设备(100)，其中所述目标物体参数(136)代表影响所述目标物体(20)在所述传感器单元(110)的所述探测区域(118)中的运动的变量。