[发明专利]校正综合验光仪的有源透镜的光焦度由于温度引起的偏移的方法及相关的综合验光仪和验光系统

权利要求书

1.一种校正综合验光仪(1)中的有源透镜(3)的光焦度由于随着时间的推移温度变化而引起的偏移的方法，所述有源透镜(3)包括容器，所述容器填充有液体并且具有在由光焦度控制命令控制的致动器的作用下的可变形曲率膜，所述偏移是所述有源透镜提供的实际光焦度和与所述光焦度控制命令相对应的预期光焦度不同，

其中，所述综合验光仪(1)中和/或其上布置有温度传感器(4)，以测量所述综合验光仪中的温度，

其中，在初步阶段，针对光焦度控制命令的至少一个恒定值并且在稳定状态条件下，获得至少一个确定的有源透镜的实际光焦度随所测得的温度而变的静态曲线或函数，

其中，在所述综合验光仪的进一步使用阶段，由所述温度传感器测量当前温度并且所述有源透镜接收使用所述有源透镜的实际光焦度的静态曲线或函数进行校正以使所述实际光焦度恢复等于所述预期光焦度的光焦度控制命令，

其中，在所述初步阶段，针对光焦度控制命令的至少一个恒定值并且针对至少一个定义的温度变化阶跃，获得所述有源透镜的实际光焦度随时间而变的另一动态曲线或函数，所述实际光焦度从所述温度变化阶跃开始在稳定时间之后变得恒定，并且其中，在所述综合验光仪的进一步使用阶段，所述有源透镜接收使用所述有源透镜的实际光焦度的动态曲线或函数进行进一步校正以使所述实际光焦度恢复等于所述预期光焦度的光焦度控制命令。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述初步阶段，所述至少一个确定的有源透镜是将在所述进一步使用阶段使用的所述验光仪的有源透镜，并且所述温度是用所述综合验光仪的温度传感器在所述初步阶段测量的。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述初步阶段，所述至少一个确定的有源透镜是由于在进一步使用阶段使用的一批综合验光仪的有源透镜，并且所述温度是用这批综合验光仪的温度传感器在所述初步阶段测量的，并且其中，所述实际光焦度的静态曲线或函数是这批中的每个综合验光仪的所获得的静态曲线或函数的统计组合的结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述初步阶段，所述有源透镜的实际光焦度随所述温度Tcurrent而变的静态曲线或函数表达为相对于参考温度Tref和相关参考光焦度Pref定义的函数：

Pcurrent＝Pref+α*(Tcurrent-Tref)

其中Pcurrent是实际光焦度，并且α是对温度的敏感度。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述温度传感器布置在比热与所述有源透镜的比热相同的设备中，以便使所述温度传感器具有与所述有源透镜相同的温度动态演化。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述综合验光仪可以开启或关闭并且包括电子和电动以及可能的移动机械部件，所述部件在开启所述综合验光仪时变热，并且其中，在所述初步阶段期间，为获得所述有源透镜的实际光焦度随时间而变的另一动态曲线或函数，所述定义的温度变化阶跃仅通过开启或关闭所述综合验光仪而获得。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述综合验光仪可以开启或关闭并且包括电子和电动以及可能的移动机械部件，所述部件在开启所述综合验光仪时变热，并且其中，在所述初步阶段期间，为获得所述有源透镜的实际光焦度随时间而变的另一动态曲线或函数，所述定义的温度变化阶跃仅通过开启所述综合验光仪而获得。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述综合验光仪的进一步使用阶段，所述有源透镜接收使用所述有源透镜的实际光焦度随时间而变的动态曲线或函数进行进一步校正以使所述实际光焦度恢复等于所述预期光焦度的光焦度控制命令，所述校正值取决于自开启所述综合验光仪以来的时间。

9.根据权利要求6所述的方法，其中，在所述综合验光仪的进一步使用阶段，所述有源透镜接收使用所述有源透镜的实际光焦度随时间而变的动态曲线或函数进行进一步校正以使所述实际光焦度恢复等于所述预期光焦度的光焦度控制命令，所述校正值取决于自开启所述综合验光仪以来的时间。