[发明专利]一种具有在不同模式下操作的子像素的辐射检测器在审

专利信息
申请号: 201880096875.2 申请日: 2018-09-07
公开(公告)号: CN112601985A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 曹培炎;刘雨润 申请(专利权)人: 深圳帧观德芯科技有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 不同 模式 操作 像素 辐射 检测器
【权利要求书】:

1.一种辐射检测器,其包括:

像素,其包含多个子像素,每个所述子像素配置成在暴露于辐射时产生电信号;

开关,其电连接到所述多个子像素;

其中所述开关配置成组合由所述子像素的子集生成的电信号。

2.如权利要求1所述的辐射检测器,其中所述开关配置成检测由每个所述子像素产生的所述电信号的幅度。

3.如权利要求2所述的辐射检测器,其中所述开关配置成在由所述子像素产生的所述电信号的所述幅度超过幅度阈值时,断开任何一个所述子像素。

4.如权利要求1所述的辐射检测器,其中所述开关包括分别连接到所述子像素的多个子开关。

5.如权利要求4所述的辐射检测器,其中每个所述子开关配置成检测由与其连接的所述子像素产生的所述电信号的幅度。

6.如权利要求5所述的辐射检测器,其中每个所述子开关配置成在所述幅度超过幅度阈值时断开与其连接的所述子像素。

7.如权利要求1所述的辐射检测器,其中所述像素包括四个子像素。

8.如权利要求1所述的辐射检测器,其中所述像素进一步包括辐射吸收层。

9.如权利要求8所述的辐射检测器,其中所述辐射吸收层包括半导体。

10.如权利要求9所述的辐射检测器,其中所述半导体选自硅、锗、GaAs、CdTe、CdZnTe及其组合。

11.如权利要求1所述的辐射检测器,其中所述开关进一步包括累加器,其用以组合由所述子像素的任何子集产生的所述电信号。

12.如权利要求1所述的辐射检测器,其进一步包括:

比较器,其配置成将来自所述开关的输出信号与输出阈值进行比较;

计数器,其配置成记录由辐射检测器吸收的若干辐射粒子;

控制器;

仪表,其配置成测量所述输出信号;

其中所述控制器配置成在所述比较器确定所述输出信号的绝对值等于或超过所述输出阈值的绝对值时启动时间延迟;

其中所述控制器配置成使仪表在所述时间延迟期满时测量所述输出信号;

其中所述控制器配置成通过将由所述仪表测量的所述输出信号除以单个粒子产生的所述开关的输出信号来确定若干粒子;

其中所述控制器配置成使所述计数器记录的数目随粒子数目的增加而增加。

13.如权利要求12所述的辐射检测器,其中所述控制器配置成在所述时间延迟开始时停用所述比较器。

14.如权利要求12所述的辐射检测器,其中所述输出阈值是单个粒子产生的所述开关的所述输出信号的5-10%。

15.一种系统,其包括权利要求1所述的辐射检测器和X射线源,其中所述系统配置成对人体胸部或腹部执行X射线照相。

16.一种系统,其包括权利要求1所述的辐射检测器和X射线源,其中所述系统配置成对人体口腔执行X射线照相。

17.一种货物扫描或非侵入式检查(NII)系统,其包括权利要求1所述的辐射检测器和X射线源,其中所述货物扫描或非侵入式检查(NII)系统配置成使用反向散射的X射线形成图像。

18.一种货物扫描或非侵入式检查(NII)系统,其包括权利要求1所述的辐射检测器和X射线源,其中所述货物扫描或非侵入式检查(NII)系统配置成使用被检查物体透射的X射线形成图像。

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