[发明专利]分光分析装置在审
申请号: | 201880096585.8 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN112601482A | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 金子翔一;佐藤亮;太田周志 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00;A61B10/00;G01M11/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于英慧;崔成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光 分析 装置 | ||
1.一种分光分析装置,其具有:
光学探针;以及
分光分析部,该光学探针通过连接器可装卸地安装于该分光分析部,
所述光学探针具有:
光纤,其引导来自光源的照明光和来自观察对象的信号光;以及
光学部件,其配置在该光纤的至少前端,
所述分光分析部对所述信号光进行分光而生成波长特性,并且所述分光分析部具有:信息分离部,其从所述信号光的信息中分离出从所述光学部件返回的第1返回光和从所述光纤返回的第2返回光的信息;不良情况判定部,其根据由该信息分离部分离出的所述第1返回光和所述第2返回光,判定在所述光学探针中产生的不良情况;以及通知部,其通知判定出的不良情况的信息。
2.一种分光分析装置,其具有:
光学探针;以及
分光分析部,该光学探针通过连接器可装卸地安装于该分光分析部,
所述光学探针具有:
光纤,其引导来自光源的照明光和来自观察对象的信号光;以及
光学部件,其配置在该光纤的前端和基端,
所述分光分析部对所述信号光进行分光而生成波长特性,并且所述分光分析部具有:信息分离部,其从所述信号光的信息中分离出从前端的所述光学部件返回的第1返回光和从基端的所述光学部件返回的第2返回光的信息;不良情况判定部,其根据由该信息分离部分离出的所述第1返回光和所述第2返回光,判定在所述光学探针中产生的不良情况;以及通知部,其通知判定出的不良情况的信息。
3.根据权利要求2所述的分光分析装置,其中,
所述第1返回光和所述第2返回光是荧光。
4.根据权利要求2所述的分光分析装置,其中,
所述第1返回光和所述第2返回光是拉曼散射光。
5.根据权利要求1或2所述的分光分析装置,其中,
所述不良情况判定部根据所述第1返回光的强度与所述第2返回光的强度之和以及所述第1返回光的强度与所述第2返回光的强度之比,来判定不良情况。
6.根据权利要求1或2所述的分光分析装置,其中,
通过利用从所述光纤的前端的所述光学部件返回的所述第1返回光的光谱中的两个以上的不同波长,来判定在所述光学探针的多个所述光纤中产生的不良情况。
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