[发明专利]生成测试计划的方法和装置、测试测量对象的方法和装置

权利要求书

1.一种用于生成用于测试测量对象(2)的测试计划的方法，

其中，提供了表示该测量对象(2)的数据记录(DS)，

其中，基于数据来设置参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，

其中，将至少一个参考结构特定的测试特征分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，针对表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)基于数据来测试是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)，其中，将该参考结构特定的测试特征分配给每个类似或相同的结构(S)作为结构特定的测试特征，

其中，该测试计划生成且包括由此确定的这些结构特定的测试特征。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将至少一个几何元素分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)，其中，该参考结构特定的测试特征是基于该至少一个几何元素来确定的。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)是通过测量相应测量对象(2)来生成的，或者所述数据记录是目标数据记录。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，表示该测量对象(2)的该数据记录(DS)是通过测量相应测量对象(2)来生成的，或者所述数据记录是目标数据记录。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，针对表示该测量对象(2)或另外的测量对象的另外的数据记录(DS)基于数据来测试是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构，其中，将该参考结构特定的测试特征分配给每个类似或相同的结构(S)，

其中，该测试计划包括由此确定的这些测试特征。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，该另外的数据记录是通过测量该测量对象(2)或相同种类的测量对象来生成的。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在基于数据测试该另外的数据记录中是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)期间将预先已知或预先确定的结构特定的位置信息项和/或取向信息项考虑在内。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在基于数据测试该另外的数据记录中是否存在与该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)类似或相同的结构(S)期间将预先已知或预先确定的结构特定的位置信息项和/或取向信息项考虑在内。

9.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，表示该测量对象(2)的数据记录(DS)是三维数据记录。

10.根据权利要求1到4中任一项所述的方法，其特征在于，表示该测量对象(2)的数据记录(DS)是二维数据记录。

11.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，

该数据记录(DS)是图像数据记录。

12.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，基于预先已知的分配将测试特征分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)和/或基于预先已知的分配将几何元素分配给该参考结构(RS1，RS2，RS3，RS4)。

13.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，用于确定目标数据记录(DS)中的结构(S)相似性的准则比用于确定通过测量生成的数据记录(DS)中的结构(S)相似性的准则更为严格。

14.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，用于确定目标数据记录(DS)中的结构(S)相似性的准则比用于确定通过测量生成的数据记录(DS)中的结构(S)相似性的准则更为严格。