[发明专利]激光模块及激光装置

说明书

提供能够通过少数的温度测定元件准确地检测模块的不良情况的激光模块。激光模块(1)具备半导体激光元件组(23、33)。从半导体激光元件组(23、33)射出的激光(L1、L2)包含TE模式(主偏振光)和TM模式(次偏振光)。另外，激光模块(1)具备封装壳体(10)、分光器(50)、以及与通过分光器(50)分出的合波主偏振光(L3)光耦合而向外部输出的光纤(60)。在封装壳体(10)的内壁包含被通过分光器(50)分出的合波次偏振光(L4)照射的次偏振光照射区域(17)。在封装壳体(10)安装有检测次偏振光照射区域(17)的温度变化的热敏电阻(90)。

技术领域

本发明涉及激光模块及激光装置，特别涉及能够检测激光模块的不良情况的激光模块。

背景技术

以往，作为这种激光模块，已知有通过温度测定元件(例如，热敏电阻)检测模块内的温度变化来检测模块的不良情况的激光模块(例如，参照专利文献1)。然而，在这种专利文献1的激光模块的结构中，在由于搭载多个激光元件等而使模块大型化的情况下，有时产生超过温度测定元件的检测范围的部分(非检测部分)，从而无法准确地检测不良情况。例如，在安装有多个激光元件的激光模块中，在位于非检测部分的激光元件发生故障的情况下，由于该故障未被检测，因此产生无法准确地掌握激光元件的累计故障数等问题。

为了解决这种问题，考虑将多个温度测定元件配置在模块的较大范围来扩大检测范围。然而，在该情况下，由于必须搭载多个温度测定元件，因此导致制造成本的增加、装置的进一步大型化。

专利文献1：日本特开2010-245209号公报

发明内容

本发明是鉴于这种现有技术的问题所做出的，第一目的在于提供能够通过少数的温度测定元件准确地检测模块的不良情况的激光模块。

另外，本发明的第二目的在于提供能够基于来自温度测定元件的数据来计算激光模块的剩余寿命的激光装置。

根据本发明的第一方式，提供能够通过少数的温度测定元件准确地检测模块的不良情况的激光模块。该激光模块具备射出激光的至少一个激光元件。上述激光包含主偏振光、和功率比该主偏振光小且偏振方位相对于上述主偏振光倾斜90度的次偏振光。另外，该激光模块具备：分光器，其使上述主偏振光与上述次偏振光分支而沿不同的方向传播；光纤，其与通过上述分光器分出的上述主偏振光光耦合而将上述主偏振光向外部输出；封装壳体，其收容上述至少一个激光元件，且在内壁包含被通过上述分光器分出的上述次偏振光照射的次偏振光照射区域；以及至少一个温度测定元件，其安装于上述封装壳体，检测上述次偏振光照射区域的温度变化。这里，“安装于上述封装壳体”意味着温度测定元件直接安装于封装壳体的情况、和温度测定元件经由树脂等间接地安装于封装壳体的情况双方。

根据本发明的第二方式，提供能够基于来自温度测定元件的数据来计算激光模块的剩余寿命的激光装置。该激光装置具备：上述的激光模块，其具有多个激光元件；故障数计算部，其基于来自上述至少一个温度测定元件的信号，来计算上述激光模块在某一驱动时刻的激光元件的累计故障数；以及剩余寿命计算部，其基于通过上述故障数计算部计算出的上述累计故障数，来计算上述激光模块的剩余寿命。

附图说明

图1是示意性地表示本发明的第一实施方式中的激光装置的局部平面剖视图。

图2是示意性地表示图1所示的A-A线截面的一部分的局部剖视图。

图3是示意性地表示图1所示的激光装置的判断部的功能结构的框图。

图4是示意性地表示本发明的第二实施方式中的激光模块的局部平面剖视图。

图5是示意性地表示本发明的第三实施方式中的激光模块的局部平面剖视图。

图6是示意性地表示图5所示的激光模块中的反射镜的立体图。

具体实施方式