[发明专利]用于开关设备等的成像分析的方法和装置在审
| 申请号: | 201880085574.X | 申请日: | 2018-11-07 |
| 公开(公告)号: | CN111566468A | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
| 发明(设计)人: | 格雷戈里·F·罗萨诺;格雷戈里·A·科勒;汪建军;托马斯·科策尔 | 申请(专利权)人: | ABB瑞士股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;H04N7/18;G06K9/32;H02B3/00 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉 |
| 地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 开关设备 成像 分析 方法 装置 | ||
1.一种检查壳体内的电气部件的方法,包括:
在所述壳体内定位第一相机,
利用所述第一相机捕获所述壳体内的电气部件的第一光学图像;
记录所述第一光学图像;
在所述壳体内定位第二相机;
利用所述第二相机捕获所述电气部件的第二光学图像;
利用电子控制模块比较所述第一光学图像的像素和所述第二光学图像的像素;以及
基于所述第一光学图像的所述像素与所述第二光学图像的所述像素之间的变化来生成警告。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一相机和所述第二相机是同一相机。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述变化是所述第一光学图像的所述像素与所述第二光学图像的所述像素之间的颜色变化。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一光学图像是在所述电气部件的新的、清洁的或已修复的状态下捕获的基线。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二光学图像在所述第一光学图像之后多于一个星期被捕获。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述电气部件或所述电气部件的一部分通过所述电子控制模块从所述第一光学图像被标识为具有同一颜色或阴影的所述像素的连续区域。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述比较通过对所述第一光学图像的所述像素和所述第二光学图像的所述像素中的百分比改变进行标识而在所述第二光学图像中标识灰尘、污垢和/或腐蚀。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述比较通过对所述第二光学图像与所述第一光学图像相比的像素改变进行标识、并且对所述第二光学图像中具有匹配颜色或阴影的邻近像素进行标识而在所述第二光学图像中标识树状结构、边缘和/或槽。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述电气部件形成以下各项中的至少一项的一部分:开关设备、控制机构、电机控制器和不间断电源(UPS)。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一光学图像和所述第二光学图像是至少五兆像素的高分辨率图像。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一相机和所述第二相机利用至少一个机器人而被运送到所述壳体中至期望位置和角度定向。
12.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一相机和所述第二相机利用内部操控装置在所述壳体内移动到期望位置和角度定向。
13.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一光学图像和所述第二光学图像在同一位置和角度定向处被捕获。
14.根据权利要求13所述的系统,其中所述第一光学图像和所述第二光学图像在同一光强度下被捕获。
15.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一光学图像是在所述电气部件的新的、清洁的或已修复的状态下被捕获的基线,并且所述电气部件或所述电气部件的一部分通过所述电子控制模块从所述第一光学图像被标识为具有同一颜色或阴影的所述像素的连续区域。
16.根据权利要求15所述的方法,其中所述比较通过对所述第一光学图像的所述像素和所述第二光学图像的所述像素中的百分比改变进行标识而在所述第二光学图像中标识灰尘、污垢和/或腐蚀。
17.根据权利要求15所述的方法,其中所述第二光学图像在所述第一光学图像之后多于一个星期被捕获。
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