[发明专利]用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的方法和用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器组件

权利要求书

1.用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的方法，其中，使用至少一个传感器元件(110)，其中，所述传感器元件(110)包括至少一个电极结构(112)，其中，所述电极结构(112)具有至少两个电极装置(114)，其中，所述方法包括下列步骤：

a)所述传感器元件(110)在至少一个测量模式中运行，包括：

i.对所述电极结构(112)加载以至少一个测量电压；和

ii.感测在所述电极结构(112)上的至少一个测量信号，其中，所述测量信号能够通过所述颗粒影响，和

b)所述传感器元件(110)在至少一个诊断模式中运行，包括：

i.对所述电极结构(112)加载以至少一个诊断电压，其中，所述诊断电压小于所述测量电压；

ii.感测在所述电极结构(112)上的至少一个诊断信号；和

iii.通过比较所述诊断信号与至少两个诊断阈值来分析处理所述诊断信号并且产生关于所述传感器元件(110)的故障状态的至少一个信息。

2.根据前一权利要求所述的方法，其中，为了感测所述测量信号和所述诊断信号，使用至少一个测量设备(142)，其中，所述测量设备(142)包括至少一个模数转换器(144)，其中，所述诊断电压小于或等于所述模数转换器(144)的感测范围的最大值。

3.根据前一权利要求所述的方法，其中，所述模数转换器(144)的感测范围的最大值为5V。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，当所述测量信号在步骤a)ii.中超过预先确定的测量信号阈值时，实施步骤b)。

5.根据前一权利要求所述的方法，其中，所述方法在步骤b)之前还包括下列步骤：

a)iii.比较所述测量信号与所述预先确定的测量信号阈值并且产生关于所述传感器元件(110)的功能状态的至少一个信息。

6.根据前一权利要求所述的方法，其中，当所述测量信号小于或最大等于所述预先确定的测量信号阈值时，将所述传感器元件(110)分类为完好的，其中，当所述测量信号超过所述预先确定的测量信号阈值时，将所述传感器元件(110)分类为故障的。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述诊断信号在步骤b)iii.中的分析处理包括将所述诊断信号与至少两个预先确定的诊断阈值D1和D2比较，其中，诊断阈值D1大于诊断阈值D2。

8.用于感测测量气体室中的测量气体的颗粒的传感器组件(138)，其中，所述传感器组件(138)包括至少一个传感器元件(110)和至少一个控制单元(152)，其中，所述传感器元件(110)包括至少一个电极结构(112)，其中，所述电极结构(112)具有至少两个电极装置(114)，其中，所述控制单元(152)设置成用于实施根据前述权利要求中任一项所述的方法。

9.根据前一权利要求所述的传感器组件(138)，其中，所述控制单元(152)具有至少一个电压源(140)，其中，所述电压源(140)设置成用于对所述电极结构(112)加载以所述至少一个测量电压和所述至少一个诊断电压。

10.根据前两个权利要求中任一项所述的传感器组件(138)，其中，所述控制单元(152)还具有至少一个测量设备(142)，其中，所述测量设备设置成用于感测在所述电极结构(112)上的至少一个测量信号。