[发明专利]引伸计结构有效

专利信息
申请号: 201880081715.0 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN111630338B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 理查德·A·迈耶;达斯廷·邦纳;戴维·亚普·赤;约翰·艾伯特·克里斯琴森 申请(专利权)人: MTS系统公司
主分类号: G01B5/30 分类号: G01B5/30;G01N3/04
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 徐飞
地址: 美国明*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 引伸计 结构
【说明书】:

一种引伸计结构(12),包括:第一延伸臂(34),其具有配置为支撑第一试样接合构件(58)的第一安装座(44);第二延伸臂(36),其具有配置为支撑第二试样接合构件(58)的第二安装座(46)。连接构件(76,76’),其在所述第一延伸臂(34)和所述第二延伸臂(36)之间延伸,并在每个对应的安装座(44,46)和所述延伸臂的远端(34,36)之间可枢转地连接至所述第一延伸臂(34)和所述第二延伸臂(36)中的每一个。以及后联接组件,其将所述延伸臂(34,36)的远端连接在一起。

背景技术

以下讨论仅用于一般背景信息,而无意于帮助确定所要求保护的主题的范围。

引伸计通常用于测量试样中的应变。引伸计的多种形式在本领域中已经得到发展。一种类型的引伸计利用通过交叉挠曲组件保持在一起的两个延伸臂。交叉挠曲组件的挠曲构件形成枢轴,该枢轴允许延伸臂相对于彼此枢转以测量试样中的应变。尽管这种形式的引伸计可以很好地发挥作用,但是可以进行改进。

发明内容

此处提供的内容和摘要以简化形式介绍一些概念,这些概念将在下面的详细描述中进一步描述。该内容和摘要不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或必要特征,也不旨在用于帮助确定所要求保护的主题的范围。所要求保护的主题不限于解决背景技术中指出的任何或所有缺点的实施方式。

一个大致的方面包括一种引伸计结构,包括:具有配置为支撑第一试样接合构件的第一安装座的第一延伸臂,具有配置为支撑第二试样接合构件的第二安装座的第二延伸臂,连接构件,其在所述第一延伸臂和所述第二延伸臂之间延伸,并在每个对应的安装座和所述延伸臂的远端之间可枢转地连接至所述第一延伸臂和所述第二延伸臂中的每一个,和将所述延伸臂的远端连接在一起的后联接组件。

实施方式可以包括以下特征中的一个或多个。所述引伸计结构中的所述后联接组件包括至少一个联接连杆和串联连接至所述第一延伸臂和所述第二延伸臂的远端的枢转组件。所述引伸计结构中,所述至少一个联接连杆和枢转组件包括连接至所述第一延伸臂的所述远端的所述连接连杆,且所述枢转组件包括连接至所述第二延伸臂的所述远端的第一部分和相对于所述第一部分枢转的第二部分,并且在与连接到所述第一延伸臂的一端相反的一端,连接至所述连接连杆。所述引伸计结构中,所述连接连杆包括挠曲件。所述引伸计结构中,所述枢转组件包括交叉挠曲组件。所述引伸计结构中,所述第二枢转连接部,所述交叉挠曲组件的枢转轴线以及所述第二延伸臂与所述连接构件之间的枢转连接部彼此位于同一条线上。所述引伸计结构中,所述第一枢转连接部和第二枢转连接部之间的间隔大约等于将所述第一延伸臂和所述第二延伸臂连接至所述连接构件的枢转连接部的间隔。所述连接连杆包括刚性连杆,所述刚性连杆具有连接至所述第一延伸臂的第一枢转连接部和连接至所述枢转组件的所述第二部分的第二枢转连接部。

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