[发明专利]光谱仪设备及系统

权利要求书

1.一种光谱仪设备(112)，包括：

光学元件(122)，其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将所述入射光(114)传输到长度可变滤波器(118)，其中，所述光学元件(122)被布置为使得所述入射光(114)沿着相对于所述光谱仪设备(112)的光轴(123)非对称的光路被传输到所述长度可变滤波器(118)；

所述长度可变滤波器(118)，其被设计用于将所述入射光(114)分离成组成波长信号的光谱；以及

包括多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120)，其中，每个所述像素化传感器(144)适于接收所述组成波长信号之一的至少一部分，其中，每个所述组成波长信号与每个组成波长的强度有关；

其中，所述光学元件(122)选自包括以下项的组：具有非对称特性的在反方向(126)操作的光学聚光器设备(124)，以及具有非对称特性的挡板滤波器(204)。

2.根据权利要求1所述的设备(112)，其中，所述光学元件(122)是在反方向(126)操作的所述光学聚光器设备(124)，并且其中，所述光学聚光器设备(124)相对于所述光谱仪设备(112)的光轴具有非对称设计。

3.根据权利要求2所述的设备(112)，其中，所述光学聚光器设备(124)包括圆锥形状(128)或非圆锥形状(174)，其中，所述光学聚光器设备(124)的所述非圆锥形状(174)包括选自抛物线形状(168)或椭圆形状(182)的形状。

4.根据权利要求2所述的设备(112)，其中，所述光学聚光器设备(124)相对于所述长度可变滤波器(118)以非对称的方式来布置，其中，所述光学聚光器设备(124)相对于垂直于所述长度可变滤波器(118)的接收表面(136)的平面而倾斜。

5.根据权利要求4所述的设备(112)，其中，所述光学聚光器设备(124)相对于垂直于所述长度可变滤波器(118)的所述接收表面(136)的所述平面而倾斜，使得被传输到所述长度可变滤波器(118)的所述入射光(114)在所述长度可变滤波器(118)上被设计用于接收所述入射光(114)的波长的空间位置(138)处垂直于所述长度可变滤波器(118)的所述接收表面(136)地冲击所述长度可变滤波器(118)，或者被传输到所述长度可变滤波器(118)的所述入射光(114)冲击所述长度可变滤波器(118)上被设计用于接收超过所述入射光(114)的所述波长的另一波长的另一空间位置(138')。

6.根据权利要求2所述的设备(112)，其中，所述光学聚光器设备(124)具有适于反射入射光(114)的至少两个侧壁(166)。

7.根据权利要求1所述的设备(112)，其中，所述光学元件(122)是所述挡板滤波器(204)，并且其中，所述挡板滤波器(204)的所述非对称特性选自以下中的至少一个：所述挡板滤波器(204)的非对称形状，或所述挡板滤波器(204)相对于所述光谱仪设备(112)的所述光轴(123)的非对称布置。

8.根据权利要求7所述的设备(112)，其中，所述挡板滤波器(204)的所述非对称布置包括所述挡板滤波器(204)相对于所述光谱仪设备(112)的所述光轴(123)的倾斜布置和/或包括在挡板平面(206)的表面上被选择性涂覆的分区(208)的挡板滤波器(204)。

9.根据权利要求1所述的设备(112)，其中，所述检测器阵列(120)通过透明间隙(146)与所述长度可变滤波器(118)分开。

10.根据权利要求1所述的设备(112)，进一步包括：适于照明所述对象(116)的照明源(154)。

11.根据权利要求10所述的设备(112)，其中，所述照明源(154)包括白炽灯(156)。