[发明专利]检测磁带介质上的损坏区域的方法有效
申请号: | 201880078796.9 | 申请日: | 2018-12-06 |
公开(公告)号: | CN111542878B | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
发明(设计)人: | 山本纪子;宫村刚志;板垣浩;长谷川彻;松井壮介;三间慎介 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 于静;杨晓光 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 磁带 介质 损坏 区域 方法 | ||
1.一种用于确定磁带驱动器中加载的磁带的损坏区域的计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质具有体现在其上的程序指令,所述程序指令可由处理器读取和/或执行以引起所述处理器执行一种方法,包括:
由所述处理器在访问磁带时检测第一错误;
由所述处理器确定所述磁带上发生所述第一错误的第一错误位置;
由所述处理器确定要检查的所述磁带上一个或多个区域,其中,使用结合所述第一错误位置的预定算法确定所述一个或多个区域;
独立于读取和/或写入操作,由所述处理器引起磁头与所述磁带之间的相对运动,从而使所述磁头依次邻近各个相应的一个或多个区域定位;
由所述处理器使用所述磁头测量在所述相应的一个或多个区域中的每个区域中发生的伺服错误的数量;以及
由所述处理器将所述一个或多个区域中的具有超过阈值的相应已测量的伺服错误的数量的每个区域识别为所述磁带的损坏区域。
2.根据权利要求1所述的计算机可读存储介质,其中,要检查的所述磁带上的所述一个或多个区域包括第一区域,其中所述第一区域与包含所述第一错误位置的区域相邻,其中所述第一区域与包含所述第一错误位置的区域位于所述磁带的相同的卷带中,其中由所述处理器使用所述磁头测量在所述相应的一个或多个区域的每个区域中发生的伺服错误的数量,包括:
使用所述磁头测量在所述第一区域中发生的伺服错误的数量;
响应于确定在所述第一区域中测量的所述伺服错误的数量超过所述阈值,执行迭代过程,所述迭代过程包括:
使用所述磁头来测量在所述磁带的下一个区域中发生的所述伺服错误的数量,其中所述下一个区域在纵向上与所述磁带的先前测量的区域相邻,所述磁带的先前测量的区域被确定具有超过所述阈值的伺服错误的数量;以及
确定在所述磁带的下一个区域中发生的所述伺服错误的数量是否超过所述阈值;以及
响应于确定在所述磁带的下一个区域中发生的所述伺服错误的数量不超过所述阈值,终止所述迭代过程。
3.根据权利要求2所述的计算机可读存储介质,包括由所述处理器可读和/或可执行以使所述处理器执行以下操作的程序指令:
由所述处理器使用所述磁头从所述磁带上终止所述迭代过程的下一个区域开始,沿着所述磁带的纵向行进预定距离,以测量发生的伺服错误的数量。
4.根据权利要求3所述的计算机可读存储介质,包括由所述处理器可读和/或可执行以使所述处理器执行以下操作的程序指令:
由所述处理器确定磁带映射是否包括在所述磁带的当前负载中执行的读取和/或写入和/或定位操作的记录,
其中,响应于确定所述磁带映射包括所述记录,使用所述记录来将所述一个或多个区域中的每一个识别为所述磁带的损坏区域。
5.根据权利要求1所述的计算机可读存储介质,包括由所述处理器可读和/或可执行以使所述处理器执行以下操作的程序指令:
由所述处理器确定磁带映射是否包括在所述磁带的当前负载中执行的读取和/或写入和/或定位操作的记录,
其中,响应于确定所述磁带映射包括所述记录,使用所述记录来将所述一个或多个区域中的每一个识别为所述磁带的损坏区域。
6.根据权利要求1所述的计算机可读存储介质,包括由所述处理器可读和/或可执行以使所述处理器执行以下操作的程序指令:
由所述处理器确定要检查的所述磁带的第二卷带上的一个或多个区域,其中所述第二卷带与包括第一错误位置的所述磁带的第一卷带相邻,其中使用所述预定算法确定所述磁带的第二卷带上的一个或多个区域;
独立于读取和/或写入操作,由所述处理器引起磁头与所述磁带之间的相对运动,使得所述磁头依次位于所述第二卷带上的相应一个或多个区域中的每一个附近;
由所述处理器使用所述磁头来测量在所述第二卷带上的每个所述相应一个或多个区域中发生的所述伺服错误的数量;以及
由所述处理器将所述第二卷带上所述一个或多个区域中具有超过所述阈值的相应已测量的伺服错误的数量的每个区域识别为所述磁带的损坏区域。
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