[发明专利]用于使用有源声谱仪确定过程属性的方法和系统

权利要求书

1.一种用于在有源声谱仪系统(100)中确定材料属性的方法，所述方法包括：

使用声谱仪获取(200)来自容器中的材料的多维声谱；

使用数学降维方法降低(202)所述声谱的维度，从而形成(204)描述材料状态的经降维的声谱；以及

确定(206)所述材料状态是否属于预定材料状态聚类。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

使用机器学习方法基于多个材料状态来定义多个预定聚类。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述数学降维方法选自包括以下的组：主分量分析、小波变换、神经网络、等距映射和多维缩放。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，基于由相应的数学降维方法得到的所得材料状态的质量测量来选择要使用的数学降维方法。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述质量测量基于以下至少之一：

-表示材料状态的数据点之间的距离；

-所得聚类的半径；以及

-一定半径内的数据点的数目。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述经降维的声谱是二维数据点。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括确定两个不同且分离的预定材料状态聚类之间的最佳路径。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，确定两个不同且分离的预定材料状态聚类之间的最佳路径包括：基于从第一材料状态聚类转变至第二材料状态聚类所需的估计时间来优化路径。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，确定两个不同且分离的预定材料状态聚类之间的最佳路径包括：基于从第一材料状态聚类转变至第二材料状态聚类所需的估计能量来优化路径。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：

确定过程正从第一材料状态向第二材料状态转变；

确定针对所述过程的转变速度；以及

将所确定的转变速度与从第一材料状态到第二材料状态的预定的估计转变速度进行比较。

11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，如果所述材料状态不属于预定材料状态聚类，则所述方法还包括确定所述材料状态是否位于两个预定材料状态聚类之间的路径上。

12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：

获取影响材料状态的第一相关过程控制参数集合；以及

基于所述过程控制参数和当前材料状态，确定是否预期所述材料状态朝向第一预定材料状态聚类移动。

13.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，还包括：

获取(500)影响所述材料状态的第一相关过程控制参数集合；

基于所述过程控制参数和当前材料状态，确定(502)是否预期所述材料状态对应于第一预定材料状态聚类；

获取(504)影响所述材料状态的第二相关过程控制参数集合；以及

基于所述第二过程控制参数集合和当前材料状态，确定(506)是否预期所述材料状态朝向不同于所述第一预定材料状态聚类的第二预定材料状态聚类移动。

14.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，如果所述材料状态不属于预定材料状态聚类，则所述方法还包括确定所述材料状态是未定义的材料状态。

15.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：如果预定数目的相继确定的材料状态位于同一个预定材料状态聚类内，则确定受监视的过程处于稳定状态。