[发明专利]测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量

说明书

本申请是关于通过以下步骤来测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量：a)提供传感器材料；b)使所述传感器材料曝露于所述预定类型辐射，用于使所述预定类型辐射在所述传感器材料中保留预定时间段；c)使已曝露于所述预定类型辐射的所述传感器材料经受热处理和/或经受光学刺激；以及d)测定所述传感器材料由于经受所述热处理和/或经受所述光学刺激而发射的可见光的量；其中所述传感器材料是由以下式(I)所表示(M')₈(M”M”')₆O₂₄(X,X')₂:M””式(I)。

发明领域

本申请涉及用于测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量的方法。本申请还涉及用于测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量的检测装置及系统。本申请还涉及不同的用途。

背景技术

紫外线(UV)照射程度升高无论是否由阳光或鞣制(tanning)紫外线装置所造成，都有使皮肤癌、其它皮肤病以及皮肤老化机率增大的负面效应。知道何时寻求遮挡紫外线辐射、或何时涂抹或再涂抹防晒乳液从而具有重要性。这对其它型辐射同样适用，诸如在例如医疗电器或诊断装置中的不同应用中使用的X辐射或者α辐射、β辐射、或γ辐射。因此知道物体已被曝露于的辐射的量具有重要意义。发明人已认识到需要一种方式来指示或测定对象已被曝露于的预定类型辐射的量。

目的

本申请的目的在于提供一种用于测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量的新方法。再者，本申请的目的在于提供一种用于测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量的新检测装置。再者，本申请的目的在于提供一种用于测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量的新系统。再者，本申请的目的在于提供不同的用途。

发明内容

根据本申请的方法特征在于其是用于测定照射在传感器材料上的预定类型辐射的量的方法，其中，所述方法包括：

a)提供传感器材料；

b)使所述传感器材料曝露于所述预定类型辐射，用于使所述预定类型辐射在所述传感器材料中保留预定时间段；

c)使已曝露于所述预定类型辐射的所述传感器材料经受热处理和/或经受光学刺激；以及

d)测定所述传感器材料由于经受所述热处理和/或经受所述光学刺激而发射的可见光的量；

其中，所述传感器材料是由以下式(I)所表示

(M')₈(M”M”')₆O₂₄(X,X')₂:M””

式(I)

其中，

M'表示选自IUPAC元素周期表第1族的碱金属的单原子阳离子、或此类阳离子的任意组合；

M”表示选自IUPAC元素周期表第13族的元素的三价单原子阳离子、或选自IUPAC元素周期表第3至12族中任一族的过渡元素的三价单原子阳离子、或此类阳离子的任意组合；

M”'表示选自IUPAC元素周期表第14族的元素的单原子阳离子、或选自IUPAC元素周期表第13族和第15族中任一族的元素的单原子阳离子、或Zn的单原子阳离子、或此类阳离子的任意组合；

X表示选自IUPAC元素周期表第17族的元素的阴离子、或此类阴离子的任意组合，或其中X不存在；

X'表示选自IUPAC元素周期表第16族的元素的阴离子、或此类阴离子的任意组合，或其中X'不存在；以及

M””表示选自IUPAC元素周期表过渡金属的元素的掺杂阳离子、或此类阳离子的任意组合，或其中M””不存在；

条件是X和X'中的至少一个存在。