[发明专利]外观缺陷检测方法及装置在审
| 申请号: | 201880071426.2 | 申请日: | 2018-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN111344554A | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
| 发明(设计)人: | 闫静;舒远;王星泽 | 申请(专利权)人: | 合刃科技(深圳)有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 外观 缺陷 检测 方法 装置 | ||
1.一种外观缺陷检测装置,其特征在于,包括至少一个拍摄方向的成像模块,设置于所述成像模块的拍摄视角中的偏振角度调节模块;
所述偏振角度调节模块用于调节进入所述成像模块的检材表面反射光的偏振角度;
所述成像模块用于拍摄至少一个所述偏振角度下的与偏振角度对应的所述检材表面的外观图像;
所述装置还包括与所述成像模块连接的处理器,用于获取所述至少一个成像模块采集的与偏振角度对应的外观图像,对所述外观图像进行投影校正和/或图像配准,得到与检材位置对应的规格化的外观图像的集合,根据所述规格化的外观图像的集合检测所述检材的表面缺陷。
2.根据权利要求1所述的外观缺陷检测装置,其特征在于,所述装置还包括光源。
3.根据权利要求1所述的外观缺陷检测装置,其特征在于,所述偏振角度调节模块为设置有两个或两个以上的起偏器的轮盘,用于通过转动所述轮盘切换对应所述成像模块的起偏器,所述两个或两个以上的起偏器对应不同的偏振角度。
4.根据权利要求3所述的外观缺陷检测装置,其特征在于,所述起偏器包括偏振片、尼科耳棱镜和旋光片中的至少一种。
5.根据权利要求1至4任一项所述的外观缺陷检测装置,其特征在于,所述处理器还用于将所述与检材位置对应的规格化的外观图像的集合进行图像融合,得到与检材位置对应的融合图像。
6.根据权利要求5所述的外观缺陷检测装置,其特征在于,所述处理器还用于对所述融合图像进行图像处理,检测所述融合图像中的与检材位置对应的表面缺陷。
7.根据权利要求1至4任一项所述的外观缺陷检测装置,其特征在于,所述处理器还用于将所述与检材位置对应的规格化的外观图像的集合中的外观图像输入到已训练的缺陷模板识别模型中,检测与所述检材位置对应的表面缺陷。
8.根据权利要求1至4任一项所述的外观缺陷检测装置,其特征在于,所述处理器还用于获取至少一个成像模块拍摄的矩形检材表面的参考图像;获取所述矩形检材的顶点坐标及位置,提取所述参考图像中所述矩形检材图像区域的角点坐标及相对位置;通过建立所述顶点坐标及位置与所述角点坐标及相对位置的映射生成投影变换模型,所述投影变换模型用于对所述外观图像进行投影校正和/或图像配准;
所述处理器还用于根据所述投影变换模型对所述外观图像进行投影校正和/或图像配准。
9.一种图像校正方法,该方法基于权利要求1至8任一项所述的外观缺陷检测装置的处理器,所述方法包括:
获取至少一个成像模块拍摄的矩形检材表面的参考图像;
获取所述矩形检材的顶点坐标及位置,提取所述参考图像中所述矩形检材图像区域的角点坐标及相对位置;
通过建立所述顶点坐标及位置与所述角点坐标及相对位置的映射生成投影变换模型,所述投影变换模型用于对所述外观图像进行投影校正和/或图像配准。
10.一种外观缺陷检测方法,其特征在于,基于权利要求1至8任一项所述的HDR图像成像系统中的处理器,所述方法包括:
获取成像模块拍摄的与检材对应的至少一个偏振角度下的与偏振角度对应的检材表面的外观图像;
对外观图像进行投影校正和/或图像配准,得到与检材位置对应的规格化的外观图像的集合;
根据所述规格化的外观图像的集合检测所述检材的表面缺陷。
11.根据权利要求10所述的外观缺陷检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述与检材位置对应的规格化的外观图像的集合中的外观图像输入到已训练的缺陷模板识别模型中;
通过所述缺陷模板识别模型检测与所述检材位置对应的表面缺陷。
12.根据权利要求10所述的外观缺陷检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述与检材位置对应的规格化的外观图像的集合进行图像融合,得到与检材位置对应的融合图像;
对所述融合图像进行图像处理,检测所述融合图像中的与检材位置对应的表面缺陷。
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