[发明专利]井下微电子器件的封装在审

专利信息
申请号: 201880070826.1 申请日: 2018-10-25
公开(公告)号: CN111386602A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 阿列克谢·里德曼;沈珍珍 申请(专利权)人: 贝克休斯控股有限责任公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/29
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 井下 微电子 器件 封装
【权利要求书】:

1.一种封装电子组件(10)的方法,所述方法的特征在于:

将多个非导电颗粒(17,27,37)设置在承载所述电子组件(10)的一个或多个部件的衬底(14,24,34,44,54)上;

将蒸汽形式的反应性聚对二甲苯单体引入所述多个非导电颗粒(17,27,37)之间的间隙空间中;以及

在所述非导电颗粒(17,27,37)的间隙空间中由所述反应性聚对二甲苯单体形成聚对二甲苯粘合剂(18,28,38),

其中任选地,所述非导电颗粒(17,27,37)具有根据ASTM D1829在23℃下测定的大于1012Ω*cm的电阻率。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述非导电颗粒(17,27,37)包含六方氮化硼,氮化硅,或包含上述中的至少一者的组合。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述非导电颗粒(17,27,37)具有不规则形状。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述非导电颗粒(17,27,37)包含具有第一规则形状和第一平均直径的第一颗粒的第一粉末,以及具有第二规则形状和第二平均直径的第二颗粒的第二粉末,或它们的组合,其中所述第一规则形状不同于所述第二规则形状,所述第一平均直径不同于所述第二平均直径。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述非导电颗粒(17,27,37)相对于所述聚对二甲苯粘合剂(18,28,38)的体积比为约70∶30至约99.99∶0.01。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征还在于将散热器(11)设置在由所述非导电颗粒(17,27,37)和所述聚对二甲苯粘合剂(18,28,38)形成的密封结构(17,19,20,30,49)上。

7.一种封装电子组件(10),其特征在于:

刚性或柔性衬底(14,24,34,44,54);

一个或多个部件,所述一个或多个部件设置在所述衬底(14,24,34,44,54)上;

密封结构(17,19,20,30,49),所述密封结构包含多个非导电颗粒(17,27,37)和聚对二甲苯粘合剂(18,28,38),所述聚对二甲苯粘合剂将所述多个非导电颗粒(17,27,37)彼此锁定,锁定到所述衬底(14,24,34,44,54)以及锁定到设置在所述衬底(14,24,34,44,54)上的所述一种或多种部件;

任选地,其中所述一个或多个部件包含引线键合(15)、芯片(16)、表面(41)贴装设备(SMD)、感测设备、通过添加制造产生的导电和隔离结构,或包括上述中的至少一者的组合。

8.根据权利要求7所述的封装电子组件(10),其中所述非导电颗粒(17,27,37)形成连续网络。

9.根据权利要求7所述的封装电子组件(10),其中

所述非导电颗粒(17,27,37)包含六方氮化硼,氮化硅,或包含上述中的至少一者的组合;

所述聚对二甲苯粘合剂(18,28,38)包含氟化聚对二甲苯;并且

所述非导电颗粒(17,27,37)相对于所述聚对二甲苯粘合剂(18,28,38)的体积比为约70∶30至约99.99∶0.01。

10.根据权利要求7所述的封装电子组件(10),其特征还在于设置在所述密封结构(17,19,20,30,49)上的与所述衬底(14,24,34,44,54)相对的散热器(11);封装基座(12,42);设置在所述封装基座(12,42)上的所述衬底(14,24,34,44,54);或它们的组合。

11.根据权利要求10所述的封装电子组件(10),其中所述散热器(11)联接到所述封装基座(12,42)。

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