[发明专利]焊接轨迹跟踪方法、装置及系统在审

专利信息
申请号: 201880068591.2 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN111344102A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 王星泽;闫静;舒远 申请(专利权)人: 合刃科技(深圳)有限公司
主分类号: B23K26/21 分类号: B23K26/21;B23K26/044;B23K26/03
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 焊接 轨迹 跟踪 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种焊接轨迹跟踪系统,其特征在于,包括处理器,与处理器连接的相干光扫描仪、感光元件、激光焊接装置;

所述相干光扫描仪用于发射互相干的扫描光束和参考光束,对焊接区域进行相干光扫描,所述相干光扫描包括至少一条扫描线;

所述感光元件用于接收所述扫描光束的反射光与所述参考光束的干涉信号,将所述干涉信号发送给所述处理器,所述干涉信号与所述扫描线对应;

所述处理器用于根据所述干涉信号确定相干光扫描的扫描线的高度信息;根据所述至少一条扫描线的高度信息确定焊接轨迹,根据所述焊接轨迹生成焊接控制信号;

激光焊接装置,用于根据所述焊接控制信号定位所述焊接轨迹。

2.根据权利要求1所述的焊接轨迹跟踪系统,其特征在于,所述相干光扫描仪包括相干光发生器、与所述相干光发生器连接的扫描装置,以及设置于所述相干光发生器的出光方向上的半透半反镜和扫描系统;

所述相干光发生器用于生成相干光束;

所述扫描装置用于控制所述相干光发生器的相干光束的出射方向进行扫描;

所述半透半反镜用于透射相干光束和反射激光焊接光束。

3.根据权利要求1或2所述的焊接轨迹跟踪系统,其特征在于,所述系统还包括与所述处理器连接的预定位相机,用于对所述焊接物表面进行拍照,并将所述拍照的图片发送给所述处理器,所述处理器用于在所述拍照的图片里确定焊接区域。

4.根据权利要求1或2所述的焊接轨迹跟踪系统,其特征在于,所述相干光扫描仪发射的扫描光束和所述激光焊接装置发射的激光焊接光束同轴。

5.一种焊接轨迹跟踪方法,其特征在于,包括:

通过相干光扫描仪对焊接区域进行相干光扫描,所述相干光扫描仪发射互相干的扫描光束和参考光束,所述相干光扫描包括至少一条扫描线;

通过感光元件接收所述扫描光束的反射光与所述参考光束的干涉信号,所述干涉信号与所述扫描线对应;

根据所述干涉信号确定相干光扫描的扫描线的高度信息;

根据所述至少一条扫描线的高度信息确定焊接轨迹。

6.根据权利要求5所述的焊接轨迹跟踪方法,其特征在于,所述通过相干光扫描仪对焊接区域进行相干光扫描之前还包括:

通过预定位相机对所述焊接物表面进行拍照,在所述拍照的图片里确定焊接区域。

7.根据权利要求5或6所述的焊接轨迹跟踪方法,其特征在于,所述通过相干光扫描仪对焊接区域进行相干光扫描还包括:

获取所述焊接区域中的焊缝/焊斑延展方向,在所述焊缝/焊斑延展方向的轴向方向上扫描。

8.根据权利要求5或6所述的焊接轨迹跟踪方法,其特征在于,所述扫描线中的高度信息中包含一个或一个以上的突变部分;

所述根据所述至少一条扫描线的高度信息确定焊接轨迹包括:

根据所述至少一条扫描线的高度信息中的一个或一个以上的突变部分确定一个或一个以上的焊接轨迹。

9.一种焊接轨迹跟踪装置,其特征在于,包括:

扫描控制模块,用于通过相干光扫描仪对焊接区域进行相干光扫描,所述相干光扫描仪发射互相干的扫描光束和参考光束,所述相干光扫描包括至少一条扫描线;

信号接收模块,用于通过感光元件接收所述扫描光束的反射光与所述参考光束的干涉信号,所述干涉信号与所述扫描线对应;

信号处理模块,用于根据所述干涉信号确定相干光扫描的扫描线的高度信息;

轨迹识别模块,用于根据所述至少一条扫描线的高度信息确定焊接轨迹。

10.根据权利要求9所述的焊接轨迹跟踪装置,其特征在于,所述装置还包括预定位模块,用于通过预定位相机对所述焊接物表面进行拍照,在所述拍照的图片里确定焊接区域。

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