[发明专利]相对于对象物使第一和第二移动体直线移动的装置及方法有效
申请号: | 201880066585.3 | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN111213225B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 瀬山耕平;歌野哲弥;野口勇一郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社新川 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/52;H01L21/67;H05K13/04 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨文娟;臧建明 |
地址: | 日本东京武藏村*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相对于 对象 第一 第二 移动 直线 装置 方法 | ||
本发明提供一种相对于对象物使第一移动体和第二移动体直线移动的装置及方法,所述相对于对象物使第一移动体和第二移动体直线移动的装置包括:经导轨引导而直线移动的第一基体、第二基体;沿着移动方向以规定间距设有刻度的线性标度尺;以及装设于第一基体、第二基体的第一编码器头、第二编码器头;且一面将第一编码器头、第二编码器头的间隔保持于规定间隔而使第一基体、第二基体沿着导轨移动,一面逐次利用第一编码器头、第二编码器头来检测第一编码器头、第二编码器头所处的第一刻度编号、第二刻度编号,根据规定间隔与第一刻度编号和第二刻度编号之间的标度尺上的距离的比率,控制第一基体、第二基体的移动量。
技术领域
本发明涉及一种相对于对象物使第一移动体和第二移动体直线移动的装置以及方法。
背景技术
例如在半导体装置的制造中,使用将半导体裸片(die)等的电子零件安装于基板或其他半导体裸片的安装装置,或将引线(wire)接合于半导体裸片的电极及基板的电极的打线接合(wire-bonding)装置等的许多接合装置。接合装置具备搭载于XY台上的接合头(bonding head)、安装于接合头且使接合工具(bonding tool)在上下方向上移动的接合臂(bonding arm)、及安装于接合头且检测基板的接合位置的位置检测用照相机。接合工具的中心线与位置检测用照相机的光轴是间隔规定的偏离距离(offset distance)而配置。而且,将位置检测用照相机的光轴对准接合位置后,使接合头以偏离距离移动,使接合工具的中心线移动至接合位置,而进行接合的情形很多。
另一方面,若持续进行接合动作,则偏离距离因温度上升而变化。因此,有时即便将位置检测用照相机的光轴对准接合位置后使接合头以偏离距离移动,接合工具的中心线也未成为接合位置。因此,提出有在接合动作的中间校正偏离距离的接合装置(例如参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2001-203234号公报
发明内容
发明所要解决的问题
再者,接合装置中,在检测具有接合头的基体(base)的移动量时,使用线性标度尺(linear scale)的情形很多。在所述情形时,若接合装置的温度上升,则有线性标度尺膨胀,根据线性标度尺的刻度而移动的基体的移动量产生误差的问题。另外,线性标度尺的温度上升并不一致,因此线性标度尺的热膨胀量也依据部位而不同的情形很多。因此,有因接合头的位置检测精度降低而导致电子零件的安装精度降低等问题。
因此,本发明的目的在于提高移动体的移动精度。
解决问题的技术手段
本发明的装置相对于对象物使第一移动体和第二移动体直线移动,包括:第一移动体,经轨道引导而直线移动;第二移动体,经轨道引导而直线移动;标度尺,沿着轨道而配置,且沿着移动方向以规定间距设有多个刻度;第一检测部,配置于第一移动体,且检测标度尺的刻度编号;第二检测部,配置于第二移动体,且检测标度尺的刻度编号;以及控制部,一面将第一检测部与第二检测部的间隔保持于规定间隔而使第一移动体及第二移动体沿着轨道移动,一面逐次利用第一检测部及第二检测部来检测第一检测部所处的第一刻度编号及第二检测部所处的第二刻度编号,根据第一检测部和第二检测部之间的规定间隔、与第一刻度编号和第二刻度编号之间的标度尺上的距离的比率,控制第一移动体及第二移动体的移动量。
本发明的装置中,第一移动体及第二移动体分别为将半导体裸片搬送至对象物的搬送机构,对象物为供安装所搬送的半导体裸片的基板或其他半导体裸片,且装置可为将半导体裸片安装于对象物的装置。
本发明的装置中,还包括使第一移动体驱动的第一驱动部、及使第二移动体驱动的第二驱动部,控制部可使第一驱动部或第二驱动部的任一者驱动而将第一移动体或第二移动体中的一者按压于另一者,一面将第一检测部与第二检测部的间隔保持于规定间隔,一面使第一移动体及第二移动体同时移动。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造