[发明专利]用于为待探测的对象提供探测信号的方法在审
申请号: | 201880065523.0 | 申请日: | 2018-07-30 |
公开(公告)号: | CN111194415A | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | F·乌特默伦;S·莱迪克;P·德根费尔德-舍恩堡 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01S7/481;G01S7/486;G01S7/487 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 探测 对象 提供 信号 方法 | ||
1.一种用于为待探测的对象(70)提供探测信号的方法,其中:
-借助第一光学非线性三波过程(30,30a)由光源(10)的具有输出频率(flaser)的光束产生至少一个第一光束和至少一个第二光束,所述至少一个第一光束和所述至少一个第二光束具有不同的频率(fobj,fref),其中
-探测具有参考频率(fref)的所述第一光束,其中
-发送具有对象频率(fobj)的所述第二光束,并且所述第二光束在对象(70)处反射后被接收,其中
-将具有所述输出频率(flaser)的所述光束和具有所述对象频率(fobj)的所述第二光束叠加,其中
-借助第二光学非线性三波过程(30,30b)由具有所述输出频率(flaser)和具有所述对象频率(fobj)的两个叠加的光束产生具有所述参考频率(fref)的参考射束,其中
-如此产生探测信号,使得能够根据探测到具有所述参考频率(fref)的所述第一光束与探测到具有所述参考频率(fref)的所述参考射束由于所述叠加而引起的变化之间的时间差来确定所述对象(70)的距离(d)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,由于所述叠加,具有所述参考频率(fref)的所述参考射束的强度发生变化,特别是增加。
3.一种传感器设备(1),所述传感器设备用于为待探测的对象(70)提供探测信号,所述传感器设备包括:
光源(10),所述光源用于产生具有至少一个输出频率(flaser)的输出射束;
第一射束产生装置(30,30a),所述第一射束产生装置用于借助第一光学非线性三波过程由所述输出射束(flaser)产生不同频率(fobj,fref)的至少一个第一光束和至少一个第二光束;
第二射束产生装置(30,30b),所述第二射束产生装置用于借助第二光学非线性三波过程由所发送的并在对象(70)处反射之后所接收的第二光束(fobj)与具有所述输出频率(flaser)的所述光束的叠加来产生具有参考频率(fref)的参考射束;
探测装置(100),所述探测装置用于探测光,其中,所述探测装置构造用于产生探测信号,使得能够根据探测到具有所述参考频率(fref)的所述第一光束与探测到具有所述参考频率(fref)的所述参考射束由于所述叠加而引起的变化之间的时间差来确定所述对象(70)的距离(d)。
4.根据权利要求3所述的传感器设备,其中,所述第一射束产生装置和/或第二射束产生装置(30a,30b)包括非线性光学晶体,其中,所述非线性光学晶体(30)尤其可以由周期性极化的钛氧基磷酸钾,铌酸锂和/或化学计量的钽酸锂和/或硼酸钡,三硼酸锂,硼酸铋和/或磷酸二氢钾制造。
5.根据权利要求3至4中任一项所述的传感器设备,其中,所述第一射束产生装置(30,30a)构造用于借助自发的参量荧光来提供所述第一光学非线性三波过程。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的传感器设备,其中,所述第二射束产生装置(30,30b)构造用于借助差频产生来提供所述第二光学非线性三波过程。
7.根据权利要求3至6中任一项所述的传感器设备,其中,布置有至少用于来自所述第二射束产生装置(30b)的光束的吸收器(96),所述吸收器可以由黑色硅制造。
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