[发明专利]下层膜形成用树脂材料、抗蚀剂下层膜、抗蚀剂下层膜的制造方法及层叠体在审
| 申请号: | 201880064822.2 | 申请日: | 2018-05-30 |
| 公开(公告)号: | CN111183395A | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
| 发明(设计)人: | 川岛启介;小田隆志;井上浩二 | 申请(专利权)人: | 三井化学株式会社 |
| 主分类号: | G03F7/11 | 分类号: | G03F7/11;C08G61/00 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;金鲜英 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 下层 形成 树脂 材料 抗蚀剂 制造 方法 层叠 | ||
1.一种下层膜形成用树脂材料,其用于形成多层抗蚀剂工艺所使用的抗蚀剂下层膜,
包含:环状烯烃聚合物(I),
使用流变仪,在氮气气氛下、以剪切模式、测定温度范围30~300℃、升温速度3℃/min、频率1Hz的条件测定得到的所述下层膜形成用树脂材料的固体粘弹性中,表示储能弹性模量(G’)曲线与损耗弹性模量(G”)曲线的交点的温度为40℃以上200℃以下。
2.根据权利要求1所述的下层膜形成用树脂材料,
使用流变仪,在氮气气氛下、以剪切模式、测定温度范围30~300℃、升温速度3℃/min、频率1Hz的条件测定得到的所述下层膜形成用树脂材料的固体粘弹性中,表示储能弹性模量(G’)曲线与损耗弹性模量(G”)曲线的交点的温度为60℃以上200℃以下。
3.根据权利要求1或2所述的下层膜形成用树脂材料,
所述环状烯烃聚合物(I)具有下述通式(1)所示的重复结构单元[A],
[化1]
所述通式(1)中,R1~R4中的至少一个选自氢、碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~20的芳基、碳原子数1~10的烷氧基、碳原子数6~20的芳氧基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~20的芳氧基烷基、碳原子数2~20的烷氧基羰基、碳原子数3~10的二烷基氨基羰基、碳原子数7~20的芳氧基羰基、碳原子数8~20的烷基芳基氨基羰基、碳原子数3~30的烷氧基羰基烷基、碳原子数8~30的烷氧基羰基芳基、碳原子数8~20的芳氧基羰基烷基、碳原子数3~20的烷氧基烷基氧基羰基和碳原子数4~30的烷氧基羰基烷基氧基羰基,R1~R4可以彼此结合而形成环结构,n表示0~2的整数。
4.根据权利要求3所述的下层膜形成用树脂材料,
所述环状烯烃聚合物(I)进一步具有下述通式(2)所示的重复结构单元[B],
[化2]
所述通式(2)中,R5~R8中的至少一个选自氢、碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~20的芳基、碳原子数1~10的烷氧基、碳原子数6~20的芳氧基、碳原子数2~10的烷氧基烷基、碳原子数7~20的芳氧基烷基、碳原子数2~20的烷氧基羰基、碳原子数3~10的二烷基氨基羰基、碳原子数7~20的芳氧基羰基、碳原子数8~20的烷基芳基氨基羰基、碳原子数3~30的烷氧基羰基烷基、碳原子数8~30的烷氧基羰基芳基、碳原子数8~20的芳氧基羰基烷基、碳原子数3~20的烷氧基烷基氧基羰基和碳原子数4~30的烷氧基羰基烷基氧基羰基,R5~R8可以彼此结合而形成环结构,n表示0~2的整数,X1表示-O-或-S-。
5.根据权利要求4所述的下层膜形成用树脂材料,
所述环状烯烃聚合物(I)中的所述结构单元[A]与所述结构单元[B]的摩尔比[A]/[B]为5/95以上95/5以下。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的下层膜形成用树脂材料,
其进一步包含与所述环状烯烃聚合物(I)不同的热塑性树脂(II)。
7.根据权利要求6所述的下层膜形成用树脂材料,
所述热塑性树脂(II)包含选自具有芳香环结构的有机聚合物和(甲基)丙烯酸聚合物中的至少一种。
8.根据权利要求6或7所述的下层膜形成用树脂材料,
所述下层膜形成用树脂材料中的所述环状烯烃聚合物(I)与所述热塑性树脂(II)的质量比(I/II)为5/95以上85/15以下。
9.根据权利要求6~8中任一项所述的下层膜形成用树脂材料,
在将所述下层膜形成用树脂材料的整体设为100质量%时,所述下层膜形成用树脂材料中的所述环状烯烃聚合物(I)和所述热塑性树脂(II)的合计含量为50质量%以上100质量%以下。
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