[发明专利]二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法

说明书

本发明的二维闪烁测定装置具备：第一计算部，其根据以第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的测光量算出测定对象物中设定的多个测定区域各自的闪烁量；第二计算部，其根据以第二采样频率对测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的测光量算出规定的测定区域的闪烁量；以及校正部，其使用校正系数对第一计算部算出的多个测定区域各自的闪烁量进行校正，该校正系数由第二计算部算出的闪烁量、和根据以第一采样频率对规定的测定区域进行测光而得到的测光量算出的规定的测定区域的闪烁量而规定。

技术领域

本发明涉及例如测定显示器屏幕的闪烁量的技术。

背景技术

以往，根据在显示器屏幕内设定的一个测定区域(测定点)测定出的闪烁量来评价显示器屏幕的闪烁量。但是，近年来，显示器屏幕逐渐大型化。在大型的显示器屏幕的情况下，仅根据一个测定区域的闪烁量无法评价显示器屏幕的闪烁量，需要设置多个测定区域。因此，提出了对于显示器屏幕内设定的多个测定区域的每一个测定区域测定闪烁量的技术。

作为这样的技术，例如专利文献1中公开了一种闪烁测定方法，用于测定显示装置中显示的图像的闪烁，其中，实施图像拍摄控制工序和闪烁波形运算工序，在图像拍摄控制工序中，获取利用拍摄装置以比测定对象的闪烁的周期长规定的追加时间的时间间隔依次拍摄所述图像而生成的拍摄信号，在闪烁波形运算工序中，将在该图像拍摄控制工序中获得的拍摄信号中的光的强度作为每个所述追加时间的数据来运算所述闪烁的波形，并且，所述闪烁波形运算工序中分别运算将所述拍摄信号中的图像分割成多个区域后的每个分割区域的闪烁的波形。

在使用低采样频率(例如128Hz)测定闪烁量的情况下，如后述说明那样，与闪烁量的真值相比，测定出的闪烁量较小。若提高用于测定闪烁量的采样频率(例如512Hz)，则能够防止该情况。但是，在使用高采样频率测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的情况下，会产生以下问题。

使用二维摄像元件测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。作为二维摄像元件，存在CCD(Charge Coupled Device：电荷耦合器件)传感器、CMOS(Complementary MOS：互补金属氧化物半导体)传感器。它们都是若储存电荷的量多则输出信号较大，若储存电荷的量少则输出信号较小。当采样频率较高时，电荷的储存时间较短，因而输出信号下降。因此，输出信号的信噪比变差。

与一个测定区域的闪烁量的测定相比，多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的测定的数据量较多。并且，与采样频率低的情况相比，在采样频率高的情况下的数据量较多。因此，在使用高采样频率测定多个测定区域的每个测定区域的闪烁量的情况下，CPU必须高速处理数据，从而要求高性能的CPU。

这里的高采样频率例如为512Hz。该值与通常的二维摄像元件的帧率(例如60fps(＝60Hz)、128fps(＝128Hz))相比相当大。利用通常的二维摄像元件，无法应对高采样频率。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-169842号公报

发明内容

本发明的目的在于提供二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法，能够使用低采样频率高精度地测定在测定对象物中设定的多个测定区域的每个测定区域的闪烁量。