[发明专利]异常检测装置及异常检测方法在审
| 申请号: | 201880061070.4 | 申请日: | 2018-08-01 |
| 公开(公告)号: | CN111149129A | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
| 发明(设计)人: | 伊藤桂一;伊部卓秀;大津展之 | 申请(专利权)人: | 株式会社安德科技术 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘英华 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 异常 检测 装置 方法 | ||
1.一种异常检测装置,其特征在于,具备:
特征量计算部件,根据真实世界数据,计算高维的特征量;
矩阵生成部件,根据预先收集的学习用真实世界数据,生成将特征量射影到异常判别空间的矩阵;
射影部件,使用所述矩阵,将根据为了检查而输入的真实世界数据计算出的特征量射影到判定有无异常的异常判别空间;
异常判断部件,根据判别空间上的分布判断有无异常;
异常识别部件,在为已知异常的情况下,在判断为异常时,该异常识别部件根据异常判别空间上的分布趋势,识别并提示异常的内容;以及
显示部件,将异常判别空间上的分布可视化显示,以直观地理解检知结果。
2.根据权利要求1所述的异常检测装置,其特征在于,还具备:
学习更新部件,根据通过显示部件显示的检知结果进行学习处理,并更新所述矩阵。
3.根据权利要求1所述的异常检测装置,其特征在于,
所述矩阵生成部件使用分类过滤器生成所述矩阵。
4.一种异常检测方法,其特征在于,包括:
根据真实世界数据,计算高维的特征量的步骤;
根据预先收集的学习用真实世界数据,生成将特征量射影到异常判别空间的矩阵的步骤;
使用所述矩阵将根据为了检查而输入的真实世界数据计算出的特征量射影到判定有无异常的异常判别空间的步骤;
根据判别空间上的分布,判断有无异常的步骤;
在为已知异常的情况下,在判断为异常时,根据异常判别空间上的分布趋势,识别并提示异常的内容的步骤;以及
将异常判别空间上的分布可视化显示,以直观地理解检知结果的步骤。
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