[发明专利]激光解吸电离法和质量分析方法

说明书

本发明提供一种激光解吸电离法，其包括：准备包括形成有多个贯通孔的基板(2)和设置在基板的第1表面(2a)的导电层的试样支承体(1)的第1工序；在冰点以下的氛围中，在载置部(6)的载置面(6a)载置冷冻的试样(S)，使第2表面(2b)与冷冻的试样接触的状态下，对载置部固定试样支承体的第2工序；使试样解冻，解冻的试样的成分因毛细管现象而通过多个贯通孔移动至第1表面侧的第3工序；和通过向导电层施加电压并同时对第1表面照射激光(L)，电离移动至第1表面侧的成分的第4工序。

技术领域

本发明涉及激光解吸电离法和质量分析方法。

背景技术

历来，作为为了进行质量分析等而将生物试样等试样电离的方法，已知有基质辅助激光解吸电离法(MALDI：Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization)。MALDI是通过将吸收激光的称为基质的低分子量的有机化合物加入试样，并对其照射激光，从而对试样进行电离的方法。根据该方法，能够将于热不稳定的物质和高分子量物质无损地电离(所谓的软电离)。

另一方面，作为不使用基质进行电离的方法，已知有表面辅助激光解吸电离法(SALDI：Surface-Assisted Laser Desorption/Ionization)(例如，参照专利文献1和2)。SALDI是通过在表面具有细微的凹凸结构的电离基板滴下试样，并对其照射激光，从而将试样电离的方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第5129628号公报

专利文献2：美国专利第6288390号说明书

发明内容

发明所要解决的问题

但是，在上述的激光解吸电离法中，难以维持原来的试样的位置信息(构成试样的分子的二维分布信息)地将试样电离，进而，难以将构成试样的分子的二维分布图像化。

本发明的目的在于，提供能够在维持试样的位置信息将试样的成分电离的激光解吸电离法和质量分析方法。

用于解决问题的方式

本发明的一个方面的激光解吸电离法包括：第1工序，准备试样支承体，该试样支承体包括形成有在彼此相对的第1表面和第2表面开口的多个贯通孔的基板和至少在第1表面设置的导电层；第2工序，在冰点以下的氛围中，在载置部的载置面载置冷冻的试样，在第2表面与冷冻的试样接触的状态下，对载置部固定试样支承体；第3工序，在试样配置在载置部与试样支承体之间的状态下，使试样解冻，解冻的试样的成分因毛细管现象而通过多个贯通孔向第1表面侧移动；和第4工序，通过在试样配置在载置部与试样支承体之间的状态下，向导电层施加电压并同时对第1表面照射激光，电离移动至第1表面侧的成分。

在该激光解吸电离法中，在试样支承体的基板，解冻后的试样的成分因毛细管现象而通过多个贯通孔向第1表面侧移动。由此，在移动至基板的第1表面侧的试样的成分中，维持了试样的位置信息(构成试样的分子的二维分布信息)。在该状态下对导电层施加电压并同时对基板的第1表面照射激光，因此维持试样的位置信息并同时电离试样的成分。而且，作为准备阶段，在冰点以下的氛围中，在载置部的载置面载置冷冻的试样，在基板的第2表面与冷冻的试样接触的状态下，对载置部固定试样支承体。由此抑制解冻试样时试样收缩。这对试样的位置信息的维持也有较大作用。进一步，由于存在试样越厚解冻时试样越大幅收缩的趋势，还能够将试样加厚与抑制试样的收缩相应的厚度。这有助于检测电离出的成分时的信号强度的确保。通过以上说明，根据该激光解吸电离法，能够在维持试样的位置信息的同时将试样的成分电离。

在本发明的一个方面的激光解吸电离法中，试样也可以为含水试样。在试样为含水试样的情况下，以试样已冷冻的状态在载置部与试样支承体之间配置试样，之后解冻试样，这在抑制试样收缩而维持试样的位置信息上特别有效。