[发明专利]用于光谱分析装置的宽带半导体紫外光源在审
申请号: | 201880060221.4 | 申请日: | 2018-08-22 |
公开(公告)号: | CN111094916A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | C·索勒;T·杰内克 | 申请(专利权)人: | 贺利氏特种光源有限公司 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02;G01J3/10;H01L33/50;H05B33/14;G01J1/58;C09K11/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 金林辉;吴鹏 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光谱分析 装置 宽带 半导体 紫外 光源 | ||
1.一种用于光谱分析装置的半导体紫外光源,该半导体紫外光源具有壳体(1),在该壳体中容纳有用于发出紫外光的至少一个基于半导体的发射体(3),在该壳体中在发射体(3)与用于工作射束(9)的射束出射部位(8;28;48)之间形成有光路,其特征在于,发射体(3)用于发出平均波长在150nm至270nm的范围内的激发光(6;36;46;56);在所述光路中设有荧光材料(5;25;35;45;55),该荧光材料部分地吸收所述激发光(6;36;46;56)并且此时发射出荧光辐射,以使得激发光(6;36;46;56)和荧光辐射叠加成工作射束(9),在200nm至400nm的波长范围内该工作射束具有至少50nm的光谱带宽。
2.根据权利要求1所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述工作射束(9)的光谱至少包括从260nm至310nm的波长范围。
3.根据上述权利要求中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述激发光(6;36;46;56)对所述工作辐射(9)的光谱带宽所做的光谱贡献小于50%。
4.根据上述权利要求中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,在所述光路中荧光材料的量和分布被设定成,使得所述激发光(6;36;46;56)在所述工作射束(9)的辐射通量中所占的份额小于50%,优选在5%至35%的范围中。
5.根据上述权利要求中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,在发射体(3)与所述射束出射部位(8;28;48)之间设有用于引导所述激发光和/或所述工作射束的一个或多个器件(7;27;37;47)。
6.根据上述权利要求中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述荧光材料以含有荧光材料的层(5;25;35;45;55)的形式施加在所述光路中。
7.根据权利要求6所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述激发光(6;36;46;56)部分地透射所述含有荧光材料的层(5;25;35;45;55)。
8.根据权利要求6或7所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述含有荧光材料的层(5;25;35;45;55)的层厚度在5μm至100μm的范围中,优选在5μm和30μm之间。
9.根据权利要求6至8中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述基于半导体的发射体具有用于所述激发光(6;36;46;56)的出射面,所述含有荧光材料的层(5;25;35;45;55)具有用于所述激发光的入射面,所述出射面与所述入射面之间的最短距离小于5mm。
10.根据权利要求6至9中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,发射体覆有所述含有荧光材料的层和/或部分地被所述含有荧光材料的层包围。
11.根据权利要求6至10中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,发射体(3)具有发射体壳体(4),该发射体壳体具有用于所述激发光(6)的出射窗,该出射窗覆有所述含有荧光材料的层(5)。
12.根据权利要求6至11中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述射束出射部位(8;28;48)被设计为所述壳体(1)的光出射开口(8),并且被由透紫外光的材料组成的窗部件遮盖,该窗部件覆有所述含有荧光材料的层。
13.根据权利要求6至12中任一项所述的半导体紫外光源,其特征在于,所述含有荧光材料的层(55)施加在载体(57)上,该载体布置在发射体(3)与所述射束出射部位(8;28;48)之间,所述载体能让所述激发光和所述工作射束透过,优选具有至少70%mm-1的内部透射率。
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