[发明专利]用于校准成像和空间方位传感器的系统和方法

权利要求书

1.一种方法，包括：

获取第一空间方位传感器的第一方位和第二空间方位传感器的第一方位；

获取第一空间方位传感器的第二方位和第二空间方位传感器的第二方位；

获取第一空间方位传感器的第三方位和第二空间方位传感器的第三方位；

获取第一空间方位传感器的第四方位和第二空间方位传感器的第四方位；

基于所述第一空间方位传感器的第一方位、所述第一空间方位传感器的第二方位、所述第一空间方位传感器的第三方位、所述第一空间方位传感器的第四方位、所述第二空间方位传感器的第一方位、所述第二空间方位传感器的第二方位、所述第二空间方位传感器的第三方位和所述第二空间方位传感器的第四方位，确定第一空间方位传感器相对于第二空间方位传感器的相对方位；

其中，第一空间方位传感器相对于第二空间方位传感器的相对方位是固定的。

2.根据权利要求1的方法，

其中，所述第一空间方位传感器的第一方位、所述第一空间方位传感器的第二方位、所述第一空间方位传感器的第三方位、所述第一空间方位传感器的第四方位中至少有三个彼此互不相同；

其中，所述第一空间方位传感器的第一方位与所述第一空间方位传感器的第二方位不同；

其中，所述第一空间方位传感器的第三方位与所述第一空间方位传感器的第四方位不同。

3.根据权利要求1的方法，

其中，所述第二空间方位传感器的第一方位、所述第二空间方位传感器的第二方位、所述第二空间方位传感器的第三方位、所述第二空间方位传感器的第四方位中至少有三个彼此互不相同；

其中，所述第二空间方位传感器的第一方位与所述第二空间方位传感器的第二方位不同；

其中，所述第二空间方位传感器的第三方位与所述第二空间方位传感器的第四方位不同。

4.根据权利要求1的方法，其中，确定第一空间方位传感器相对于第二空间方位传感器的相对方位的步骤包括：

确定第一空间方位传感器相对于参考系的相对方位；

确定第二空间方位传感器相对于所述参考系的相对方位；

基于第一空间方位传感器相对于参考系的相对方位和第二空间方位传感器相对于所述参考系的相对方位，确定第一空间方位传感器相对于第二空间方位传感器的相对方位。

5.根据权利要求4的方法，其中，基于第一空间方位传感器的第一方位、第一空间方位传感器的第二方位、第一空间方位传感器的第三方位以及第一空间方位传感器的第四方位，确定第一空间方位传感器相对于参考系的相对方位。

6.根据权利要求4的方法，其中，基于第二空间方位传感器的第一方位、第二空间方位传感器的第二方位、第二空间方位传感器的第三方位以及第二空间方位传感器的第四方位，确定第二空间方位传感器相对于参考系的相对方位。

7.一种方法，包括：

使用成像传感器，获取三维空间中第一点的图像和三维空间中第二点的图像；

基于第一点的图像和第二点的图像，确定成像传感器相对于参考系的相对方位；

其中，所述第一点和所述第二点在三维空间中是固定的。

8.根据权利要求7的方法，其中，确定成像传感器相对于参考系的相对方位的步骤还包括：

确定与所述成像传感器相对固定的参考点与所述第一点的图像之间的向量，并确定所述参考点与所述第二点的图像之间的向量；

基于所述向量和所述向量确定相对方位。

9.根据权利要求8的方法，

其中，所述参考点与所述第一点的图像之间的向量为单位向量；

其中，所述参考点与所述第二点的图像之间的向量为单位向量。