[发明专利]自动检查系统以及自动检查方法在审

专利信息
申请号: 201880059140.2 申请日: 2018-06-06
公开(公告)号: CN111066070A 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 本田淳平;西村卓真;柏原广茂 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G08C15/00 分类号: G08C15/00;G08C17/00;G08C19/36;H04Q9/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金光华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 自动 检查 系统 以及 方法
【说明书】:

提供一种自动检查系统以及自动检查方法,能够抑制测量装置的功耗。测量装置(1)具备:传感器部(11),测量检查对象(3);参数管理部(13),根据从数据收集装置(2)接收的参数决定用信息来决定对传感器部设定的预定的参数;以及测量数据生成部(12),通过解析传感器部使用预定的参数对检查对象进行测量得到的数据,生成测量数据,数据收集装置具备:参数决定用信息生成部(23),生成参数决定用信息;以及测量数据取得部(21),对测量装置明示参数决定用信息,请求取得测量数据,保存从测量装置取得的测量数据。

技术领域

本发明涉及自动检查系统以及自动检查方法。

背景技术

对于在工厂、变电站等的车间所设置的流量计或者功率表等仪表(例如针式仪表),用户通过在1天以几次至十几次程度的频度进行目视而进行检查。自动检查系统利用现场的照相机对检查对象的仪表进行摄影而发送到中心(center)。由此,管理室内的用户能够远程地确认仪表值。

在这样的自动检查系统中使用的测量装置往往设置于难以从外部供电的场所。另一方面,测量装置需要长期地以预定的频度持续发送测量数据。因此,在自动检查系统中,要求尽可能抑制测量装置的功耗,通过电池等独立电源而长时间动作。

但是,在利用照相机那样的光学式传感器对检查的对象(例如针式仪表)的状态进行检测的情况下,为了准确地解析读取出的图像,需要准备好焦距、曝光等光学的条件。但是,测量装置设置于室外等的情形也较多,较强地受到阳光等的干扰的影响。另外,即使在室内设置的测量装置中,也根据照明装置的动作状态而受到影响。

这样,设置测量装置的环境不稳定,所以难以利用固定值来应对焦距、曝光的调整。而且,曝光调整的处理时间比照相机中的摄影时间更长,所以如果反复实施曝光调整,则测量装置的功耗增大。因此,要求削减曝光的调整所需的时间,削减功耗。

在此,在专利文献1中公开了通过使用图像数据库来提高可靠度的技术。在专利文献2中公开了不使用亮度高的照明装置而对明亮的图像进行摄像的技术。

现有技术文献

专利文献1:日本特开2005-275590号公报

专利文献2:日本特开2002-288780号公报

发明内容

专利文献1以及专利文献2是用于高效地辨识查表数据(meter-reading data)的技术,并非是缩短测量装置的测量时间或者实现省电的技术。

本发明的目的在于,提供一种能够抑制测量装置的功耗的自动检查系统以及自动检查方法。本发明的另一目的在于,提供一种通过缩短对于在测量中使用的预定的参数进行决定的时间而能够抑制测量装置的功耗的自动检查系统以及自动检查方法。

为了解决上述课题,依照本发明的自动检查系统具备:测量装置,输出测量数据;以及数据收集装置,从测量装置收集测量数据,其中,测量装置具备:传感器部,测量检查对象;参数管理部,是对在传感器部测量检查对象时使用的预定的参数进行管理的参数管理部,该参数管理部根据从数据收集装置接收的参数决定用信息,决定对传感器部设定的预定的参数;以及测量数据生成部,通过解析传感器部使用预定的参数对检查对象进行测量得到的数据,生成测量数据,数据收集装置具备:参数决定用信息生成部,生成参数决定用信息;以及测量数据取得部,对测量装置明示参数决定用信息,请求取得测量数据,并保存从测量装置取得的测量数据。

根据本发明,测量装置通过根据来自数据收集装置的参数决定用信息来决定预定的参数,并将预定的参数设定到传感器部,从而能够取得测量数据。

附图说明

图1是自动检查系统的整体图。

图2是多跳无线网络的说明图。

图3是曝光参数管理部管理的表格的说明图。

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