[发明专利]用于膜的撕裂分析的系统在审

专利信息
申请号: 201880057095.7 申请日: 2018-04-30
公开(公告)号: CN111065908A 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: S·C·索兰基;D·L·麦卡迪;R·A·冈瑟;J·王;K·A·梅耶斯;S·J·柯利克 申请(专利权)人: 陶氏环球技术有限责任公司
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 徐舒
地址: 美国密*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 撕裂 分析 系统
【权利要求书】:

1.一种用于分析膜样品的物理特性的系统,所述系统包含:

材料保持器系统,所述材料保持器系统被配置成保持所述膜样品;和

撕裂分析装置,所述撕裂分析装置被配置成撕裂所述膜样品并且测量所述撕裂的特性;

其中可移动系统被配置成将所述材料保持器系统中的所述膜样品移动到所述撕裂分析装置。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述可移动系统包含关节臂机器人臂系统。

3.根据权利要求1或2中任一项所述的系统,其另外包含:

切割器,所述切割器被配置成将所述膜样品切割成多个膜样本;

其中所述可移动系统被配置成将所述膜样品移动到所述切割器,并且将所述多个膜样本从所述切割器移动到材料厚度测量系统、材料图像分析器系统和所述撕裂分析装置中的至少一个。

4.根据权利要求3所述的系统,其中所述材料保持器系统包括被配置成通过真空抽吸来保持所述膜样品和膜样本的真空抽吸系统。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统,其另外包含被配置成测量所述膜样品的厚度的材料厚度测量系统。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的系统,其中所述材料厚度测量系统包含探针,所述探针被配置成测量展开的区域上的所述膜样品的厚度,以避免在所述测量期间刺穿所述膜样品。

7.根据权利要求3或4中任一项所述的系统,其中所述切割器包含与用于在第一方向上切割所述膜样品的第一刀片连接的第一线性致动器,和与用于在横向于所述第一方向的第二方向上切割所述膜样品的第二刀片连接的第二线性致动器。

8.根据权利要求3、4和7中任一项所述的系统,其中所述切割器包含被配置成在切割期间保持所述膜样品的膜支撑板,和被配置成将所述膜样品压靠在所述膜支撑板上的压板,其中所述膜支撑板和所述压板中的一个限定一个或多个榫舌,并且所述膜支撑板和所述压板中的另一个限定与所述一个或多个榫舌配合的一个或多个凹槽,并且其中所述膜样品在切割期间被保持在膜支撑板和所述压板之间。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的系统,其中所述撕裂分析装置包含:

固定夹具站,所述固定夹具站保持所述膜样品或所述多个膜样本中的一个的第一部分;和

可移动夹具,所述可移动夹具保持所述膜样品或所述多个膜样本中的所述一个的第二部分。

10.根据权利要求9所述的系统,其另外包含使所述可移动夹具相对于所述固定夹具站移动的机器人臂。

11.根据权利要求9或10中任一项所述的系统,其另外包含与所述固定夹具站和所述可移动夹具中的一个相关联的力传感器。

12.根据权利要求9至10中任一项所述的系统,其另外包含被配置成在所述膜样品或膜样本中切割狭缝的至少一个刀片,所述至少一个刀片位于所述固定夹具站的夹持器和所述可移动夹具之间。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的系统,其另外包含被配置成检测所述膜样品中的缺陷的材料图像分析器系统。

14.一种用于分析膜样品的物理特性的方法,所述方法包含:

通过连接到可移动系统的材料保持器系统来保持所述膜样品;

使用所述可移动系统将所述膜样品移动到撕裂分析装置;和

使用所述撕裂分析装置测试所述膜样品的物理特性。

15.根据权利要求14所述的方法,其另外包含:

通过所述可移动系统将所述膜样品移动到切割器;和

使用所述切割器将所述膜样品切割成至少两个较小的膜样本。

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