[发明专利]射频识别(RFID)标签方位估计的方法和装置

说明书

一种射频识别(RFID)标签方位估计的方法，包括：在具有多个天线元件的RFID标签读取器处，发射主传输波束；经由天线元件从RFID标签接收响应信号；基于响应信号的第一分区，生成与第一组接收波束特性相对应的第一组信号测量；基于响应信号的第二分区，生成与第二组接收波束特性相对应的第二组信号测量；将第一组信号测量和第二组信号测量进行组合，以从第一接收波束特性和第二接收波束特性中选择用于RFID标签的估计标签方位。

背景技术

射频识别(RFID)技术可以部署在各种环境中，包括零售店、仓库等，以跟踪各种类型的对象。典型的RFID系统包括RFID读取器或询问器，以及多个RFID标签。标签通常与环境中的对象(例如，衣物，库存箱等)相关联，并且可以物理地附接于此类物品。RFID读取器被配置为在不同的预定方向上发射一系列射频(RF)询问信号。由RFID读取器通过向天线元件的相控阵中的每一个应用复数权重，而不是经由天线元件的物理运动，来控制每一个询问信号的方向。

一旦接收到询问信号，标签中的至少一个被配置为发射RF响应。进而，RFID读取器被配置为检测和解调响应，该响应可以包含，例如，库存单元(SKU)代码或标识标签所附接的对象的其他数据。除了解调标识数据，RFID读取器还可以被配置为估计从其处接收到响应的标签的方位(例如，相对于该RFID读取器的高度和方位角)，以用于环境中对象的位置跟踪。RFID读取器可以实施常规数字波束成形技术以用于方位估计；然而，此类方位估计技术可能仍然需要环境中的每一个标签的两个或更多个询问以获得足够准确的方位估计。对重复标签询问的需求减慢了位置跟踪的速度，从而降低了系统的效率。

附图说明

附图(其中类同的附图标记在全部单独的视图中表示相同的或功能类似的要素)连同下面的详细描述被纳入于此并形成说明书的一部分，并用来进一步阐述包括所要求保护的发明的构思的实施例，以及解释那些实施例的各种原理和优势。

图1是其中部署了RFID读取器和多个RFID标签的环境的示意图。

图2是图1的RFID读取器的某些内部组件的框图。

图3是图1的RFID读取器的其他内部组件的框图。

图4是RFID标签方位估计的方法。

图5是在图4的方法执行期间图1的环境的示意图。

图6和图7示出了在图4的方法执行期间用于信号分区的替代机构。

图8是经由执行图4的方法生成的信号测量的热图。

本领域技术人员将理解附图中的要素出于简化和清楚而示出，并且不一定按比例绘制。例如，附图中的要素中的一些要素的尺寸可相对于其他要素被放大以帮助提升对本发明实施例的理解。

已在附图中通过常规符号在适当位置对装置和方法构成进行了表示，所述表示仅示出与理解本发明的实施例有关的那些特定细节，以免因得益于本文的描述对本领域技术人员显而易见的细节而混淆本公开。

具体实施方式

射频识别(RFID)技术可以用于各种环境中的对象管理，包括位置跟踪。通常，至少一个RFID读取器被部署在诸如零售商店、仓库等的环境中，在该环境中放置了多个物体(例如，衣物、箱子、货盘等)。每一个对象可以具有附接到其上的RFID。RFID读取器发射扫过待评估区域的一系列询问波束，例如经由天线元件的相控阵的适当的波束成形控制。RFID读取器的天线元件从询问波束到达的至少一个标签接收响应，并且在传输下一询问波束之前，RFID读取器处理该响应以确定标签相对于该RFID读取器的方位。仅接收到该响应即可以指示该标签的大致方向(即，在提示标签响应的询问波束覆盖的区域内)；但是，该大致方向通常不够准确。