[发明专利]图像传感器瑕疵检测

权利要求书

1.一种系统，包括：

图像传感器，被配置为捕获图像；以及

处理装置，被配置为：

从所述图像传感器获得测试图像；

将低通滤波器应用于所述测试图像，以获得模糊的图像；

基于所述模糊的图像与所述测试图像之间的差异来确定经增强的图像；以及

将经增强的所述图像的图像部分与阈值相比较，以确定所述图像传感器是否存在瑕疵。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理装置被配置为：

通过将所述阈值应用于经增强的所述图像，来确定瑕疵图。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其中将所述低通滤波器应用于所述测试图像包括：将方形平均核与所述测试图像进行卷积。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的系统，其中所述测试图像是基于在测试表面被定位在所述图像传感器的视场中时被捕获的图像。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的系统，其中将所述低通滤波器应用于所述测试图像包括：

对所述测试图像进行下采样，以获得经下采样的测试图像；以及

将所述低通滤波器应用于经下采样的所述测试图像。

6.一种方法，包括：

从图像传感器获得测试图像；

将低通滤波器应用于所述测试图像，以获得模糊的图像；

基于所述模糊的图像与所述测试图像之间的差异，来确定经增强的图像；

将所述经增强的图像的图像部分与阈值相比较，以确定所述图像传感器是否存在瑕疵；以及

存储、传输或显示所述图像传感器是否存在瑕疵的指示。

7.根据权利要求6所述的方法，包括：

通过将所述阈值应用于经增强的所述图像，来确定瑕疵图。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其中将所述低通滤波器应用于所述测试图像包括：将方形平均核与所述测试图像进行卷积。

9.根据权利要求6至8中的任一项所述的方法，其中所述测试图像是基于在测试表面被定位在所述图像传感器的视场中时被捕获的图像。

10.根据权利要求9所述的方法，其中所述测试表面是发光二极管板。

11.根据权利要求9或10所述的方法，其中所述测试表面用跨所述视场的均匀亮度被照明。

12.根据权利要求6至11中的任一项所述的方法，其中将所述低通滤波器应用于所述测试图像包括：

对所述测试图像进行下采样，以获得经下采样的测试图像；以及

将所述低通滤波器应用于经下采样的所述测试图像。

13.一种系统，包括：

测试表面，被配置为被照明；

保持器，被配置为将相机保持在一位置，以使得所述测试表面出现在所述相机的图像传感器的视场内；以及

处理装置，被配置为：

从所述相机接收测试图像，其中所述测试图像是基于由所述图像传感器捕获的图像，其中所述测试表面出现在所述视场内；

将低通滤波器应用于所述测试图像，以获得模糊的图像；

基于所述模糊的图像与所述测试图像之间的差异来确定经增强的图像；以及

将经增强的所述图像的图像部分与阈值相比较，以确定所述图像传感器是否存在瑕疵。

14.根据权利要求13所述的系统，其中所述测试表面是发光二极管板。

15.根据权利要求13或14所述的系统，其中所述测试表面用跨所述视场的均匀亮度被照明。