[发明专利]处理光子计数型X射线检测数据的方法及装置、以及X射线装置

说明书

本发明对具有更宽范围的有效原子序数(Z_eff)的元素的对象也以低计算负荷进行更高精度的射束硬化校正，有助于更加定量的X射线图像的提示。对两个以上的X射线能量BIN中所选择的两个X射线能量BIN的X射线衰减量(μt)进行标准化，按照每个像素区域求出至少一个标准化X射线衰减量，根据表示标准化X射线衰减量与元素的有效原子序数之间的理论上的对应关系的参照信息，按照每个像素区域推定至少一个有效原子序数，判断被推定的至少一个有效原子序数(Z_High、Z_Low)以及进行射束硬化校正时预先指定的有效原子序数(Zm)中至少两个原子序数的一致状态。

技术领域

本发明涉及处理透过对象物的X射线检测数据的方法及装置、以及X射线装置，特别是涉及向对象物照射具有连续光谱的X射线，对进行光子计数型X射线检测所收集的数据进行处理的方法及装置、以及光子计数型X射线装置。

背景技术

近年来，使用X射线调查对象物的内部的状态的检验以食品的异物检验、行李检验等为首，到医疗用的X射线乳房摄影，遍及各处。

例如，对于异物检验，专利文献1(日本特开2010-091483：发明名称是“异物检测方法及装置”)中记载的方法被提出。该专利文献1以所谓的被称为双能量法(或者减法)的检验法为基础。该检验法利用在两种能量的X射线(即、波长彼此不同的两种X射线)透过物质时该X射线透过信息中存在差异。具体而言，以下面的处理为基础。首先，同时创建低能量和高能量两种X射线图像，取得这些图像的相互的差分。进一步，从该差分图像中提取混入异物的成分图像，对该成分图像进行阈值处理从而检测异物。

然而，被照射的X射线透过对象物时产生射束硬化现象(线质硬化现象)。该现象是指如下现象：在将多色X射线照射到物质时，与高能量成分相比，低能量成分更容易被吸收，物质透过后的成分比例向高能量侧转移，有效能量向高能量侧转移。

对于在该X射线装置中不可避免的射束硬化现象，例如被记载在专利文献1以及专利文献2中。其中，在专利文献1中记载了一种X射线装置，具备：X射线发生器，朝向被检测物照射具有连续光谱(多色)的脉冲状的X射线；以及光子计数型检测器，将透过被检测物的X射线视作光子并输出与该粒子的能量相对应的电信号。在该X射线装置中，进行用于重新构成抑制了由于射束硬化现象引起的伪影的发生的图像的处理。

另外，对于射束硬化现象，在专利文献2中示例了在具备X射线源和X射线检测器的X射线装置中对检测器的检测信号校正由于射束硬化现象产生的影响的处理。作为该处理，改变模擬被照射物的厚度并创建多个投影数据，在图中绘制按照每个透过距离的投影数据，将该绘制的投影数据与其理论值建立对应关系并创建射束硬化校正函数。因此，例如，可以考虑，在专利文献1所记载的放射线检测装置中，为了减少射束硬化现象，创建用于专利文献2所记载的射束硬化校正的校正函数，利用该校正函数，校正被检测物的透过X射线的测量值。

进一步，还已知在被称为Monochromatic CT的CT装置中，使用碘和水这两种物质作为基准物质进行射束硬化校正。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2006-101926号公报

专利文献2：国际公开第2010/061810号

专利文献3：国际公开第2016/171186号

专利文献4：国际公开第2017/069286号

发明内容

本发明所要解决的技术问题