[发明专利]对目标特性的光学监测在审

专利信息
申请号: 201880038361.1 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN110770573A 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 达伦·T·瓦利斯 申请(专利权)人: 赛普拉斯半导体公司
主分类号: G01N21/77 分类号: G01N21/77;G01N21/76;G01N17/02;G01N21/64;G01N21/88;G01D11/24;H04N21/21
代理公司: 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 陆建萍;杨明钊
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 光学监测器 光学检测器 光发射器 环境空气 处理设备 光学特性 目标反射 生成信号 照射目标 暴露 透射 激活
【说明书】:

一种光学监测器包括被设置在光学监测器内并暴露于环境空气的目标,其中暴露于环境空气使得目标的光学特性产生变化。光学监测器还可以包括照射目标的光发射器和基于从目标反射的或透射通过目标的光来生成信号的光学检测器。处理设备可以激活光发射器并从光学检测器接收信号。

相关申请的交叉引用

本申请是于2017年9月22日提交的第15/713,055号美国专利申请的国际申请,其要求于2017年6月14日提交的第62/519,651号美国临时申请的权益,以上两个申请都通过引用以其整体在此并入本文。

背景

监测对被部署在制造、医疗和保健环境、办公空间、家庭、汽车、或其他空间中的装备的不利影响可以改善该装备的操作或寿命。然而,监测对不同部件的特定影响可能会给某些系统带来挑战。

附图简述

通过参考以下结合附图的描述,可以最好地理解所描述的实施例及其优点。这些附图绝不限制本领域技术人员在不脱离所描述实施例的精神和范围的情况下对所描述实施例进行的形式和细节上的任何改变。

图1是可以根据一些实施例使用的光学监测器的实施例的示意图。

图2是可以根据一些实施例使用的光学监测器的实施例的侧视图的示意图。

图3是可以根据一些实施例使用的光学监测器的实施例的侧视图的示意图。

图4是可以根据一些实施例使用的光学监测器的实施例的俯视图的示意图。

图5是可以根据一些实施例使用的光学监测器的实施例的俯视图的示意图。

图6是可以根据一些实施例使用的光学监测系统的实施例的示意图。

图7是根据一些实施例描绘确定目标的特性的方法的流程图。

详细描述

腐蚀对各个系统、公司和整个经济来说都是一项显著的成本。例如,汽车、联网、和服务器装备在使用寿命期间经常被暴露在恶劣的环境中。不断增加的空气污染加上数据中心低成本的“新鲜空气”冷却使装备制造商损失了数百万的回报。对于汽车制造商来说,水渍和使用中的出现的腐蚀造成了巨大的费用。此外,例如公用事业、运输、基础设施和制造业的其他行业也将受益于低成本腐蚀监测解决方案。

在一些实施例中,本文公开的光学监测器光学地检测半导体芯片级、独立封装中的腐蚀。在一些实施例中,目标腐蚀样本位于设备空腔中。目标腐蚀样本可以是金属,或者涂覆在金属中的另一种材料,作为被监测的系统的代表性部分。因此,光学监测器可以使用目标上的腐蚀来确定系统中是否有腐蚀。在一些实施例中,目标腐蚀样本可以与外部环境光隔离。例如,一个或更多个挡板允许外部大气进入空腔。随着时间的推移,随着目标腐蚀样本被暴露到空气中,目标可能会腐蚀。

为了测试腐蚀,可以用光学发射器照射目标。在一些实施例中,光学发射器提供根据目标类型和腐蚀性空气选择的波长或光谱的光。例如,光学发射器可以提供可见光谱、红外光谱、紫外光谱、或任何其他波长的光。因此,光学监测器可以以特定环境中特定金属的特定类型的腐蚀为目标。一个或更多个光学监测器可以接收从目标反射的光。处理设备可以使用的目标的反射率的变化来确定腐蚀已经发生。在一些实施例中,来自光学监测器的数据或对腐蚀的任何确定可以从光学监测器被传输到主机系统。

在一些实施例中,光学监测器可以针对由于环境引起的变化连续地监测目标。例如,光学监测器的处理设备可以周期性地激活光发射器来照射目标。然后,光学检测器可以基于从目标反射的光或穿过目标的光生成信号。然后,处理设备可以记录数据,基于生成的信号确定是否存在腐蚀,或者将数据提供给主机系统,以便主机系统确定目标的腐蚀状态。通过周期性地重复该过程,处理设备可以创建对腐蚀状态的连续监测。

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