[发明专利]断层图像生成方法和放射线摄影装置

说明书

在断层图像生成方法中，获取包括微细构造信息(M)和第一波动伪像(R1)的第一断层图像(T1)，获取包括第二波动伪像(R2)的第二断层图像(T2)，通过从第一断层图像中减去第二断层图像来获取减法断层图像(T3)。

技术领域

本发明涉及一种断层图像生成方法和放射线摄影装置，尤其涉及一种基于通过向被检体照射X射线而获取的投影图像来获取断层图像的断层图像生成方法和放射线摄影装置。

背景技术

以往，已知一种基于通过向被摄体(被检体)照射X射线(放射线)而获取的透视图像(投影图像)来获取断层合成图像(断层图像)的X射线透视装置。例如，在日本特开2016-127870号公报中公开了这样的X射线透视装置。在此，断层合成图像是通过对从不同的角度拍摄到的被摄体的投影图像进行重建而得到的任意高度的断层图像。

上述日本特开2016-127870号公报所记载的X射线透视装置具备向被摄体照射X射线的X射线源、检测X射线的检测器以及将由检测器检测出的X射线转换为与强度相应的电信号来获取投影图像的控制装置。在此，控制装置构成为：对获取到的投影图像实施前处理，使用规定数量的实施了前处理的投影图像来生成断层合成图像。

上述日本特开2016-127870号公报所记载的X射线透视装置中的控制装置构成为：对透视图像进行用于减少噪声的前处理。具体地说，控制装置在前处理中针对规定数量的透视图像分别判断构造区域和其它区域。更详细地说，控制装置对获取到的规定数量的透视图像进行差分处理，将差值比阈值大的区域判断为构造区域。而且，控制装置构成为：在前处理中，不对构造区域进行任何处理，仅对其它区域进行平滑化处理。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2016-127870号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在上述日本特开2016-127870号公报所记载的X射线透视装置中的控制装置中，在前处理中，将差值比阈值大的区域判断为构造区域。由此，在控制装置中存在以下不良情况：透视图像的数量少，因此由高对比度区域引起的对伪像的影响变大，从而发生难以判断构造区域的情况。另外，控制装置不对构造区域进行任何处理，因此认为断层合成图像的构造区域中存在由于高对比度区域产生伪像的不良情况。因此，存在以下问题：虽然有数量少的透视图像(投影图像)，但无法可靠地获取抑制了图像质量的下降的断层合成图像(断层图像)。

本发明是为了解决上述那样的课题而完成的，本发明的一个目的在于提供如下一种断层图像生成方法和放射线摄影装置：即使有数量少的投影图像也能够可靠地获取抑制了因由于高对比度区域引起的伪像而导致的图像质量的下降的断层图像。

用于解决问题的方案

为了实现上述目的，本发明的第一方面的断层图像生成方法以多个不同的角度向被检体照射放射线，由此检测透过被检体后的放射线来获取包括微细构造信息的多个投影图像，通过直接对多个投影图像进行重建，来获取包括微细构造信息和第一伪像信息的第一断层图像，对多个投影图像的各投影图像进行维持高对比度区域且使高对比度区域以外的区域模糊的第一模糊处理，通过对进行了第一模糊处理的多个投影图像进行重建，来获取包括第二伪像信息的第二断层图像，通过从第一断层图像中减去第二断层图像，来获取减法断层图像。