[发明专利]用于表征轴的扭转、旋转和/或定位的装置、组件和方法有效
申请号: | 201880033541.0 | 申请日: | 2018-04-27 |
公开(公告)号: | CN110662950B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | D·布亨奥 | 申请(专利权)人: | 赫姆霍兹-森德拉姆德雷斯顿-罗森多夫研究中心 |
主分类号: | G01L3/10 | 分类号: | G01L3/10 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 俞海舟 |
地址: | 德国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 表征 扭转 旋转 定位 装置 组件 方法 | ||
1.用于表征轴(5)的扭转、旋转和/或定位的测量装置(3),其包括:
用于产生磁场的磁场发生器(9)、用于检测磁场的第一磁场探测器(11)和第二磁场探测器(13),其中,所述磁场发生器(9)布置在所述第一磁场探测器(11)与所述第二磁场探测器(13)之间,
所述测量装置(3)构造用于向所述磁场发生器(9)施加时间上周期性变化的电励磁信号,使得由所述磁场发生器(9)产生时间上周期性变化的磁场,其中,由待表征的轴(5)来修改磁场,并且由经修改的磁场在所述第一磁场探测器(11)处引起第一电输出信号并且在所述第二磁场探测器(13)处引起第二电输出信号,
所述测量装置(3)构造用于检测所述电励磁信号与所述第一电输出信号之间的幅度形式或相位形式的差作为第一测量参量(XE/R1),并且检测所述电励磁信号与所述第二电输出信号之间的幅度形式或相位形式的差作为第二测量参量(XE/R2),并且
所述测量装置(3)构造用于求取所述第一测量参量与所述第二测量参量的总和(ΣX12)和/或用于求取所述第一测量参量与所述第二测量参量之间的差(ΔX12)。
2.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述磁场发生器(9)是用作励磁线圈的线圈。
3.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述第一磁场探测器(11)是用作第一接收线圈的第一线圈,并且所述第二磁场探测器(13)是用作第二接收线圈的第二线圈。
4.根据权利要求2所述的测量装置,其中,所述第一磁场探测器(11)是用作第一接收线圈的第一线圈,并且所述第二磁场探测器(13)是用作第二接收线圈的第二线圈。
5.根据权利要求4所述的测量装置,其中,所述励磁线圈的线圈轴线(15)、所述第一接收线圈的线圈轴线(17)以及所述第二接收线圈的线圈轴线(19)彼此间隔开距离地相互平行地延伸。
6.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述测量装置(3)构造用于向所述磁场发生器(9)施加至少两个具有不同频率(Ω1、Ω2)的时间上周期性的电励磁信号。
7.根据权利要求6所述的测量装置,其中,所述测量装置(3)构造用于对于所述频率(Ω1、Ω2)中的每个频率检测第一测量参量(XE/R1)和第二测量参量(XE/R2),用于对于所述频率中的每个频率求取所述第一测量参量与所述第二测量参量的总和(ΣX12Ω1,ΣX12Ω2),以及用于基于多个所述总和来求取施加在所述轴(5)上的扭转力矩(MT)。
8.根据权利要求1所述的测量装置,其中,所述测量装置(3)具有第三磁场探测器(35)和第四磁场探测器(37),其中,所述磁场发生器(9)布置在所述第三磁场探测器(35)与所述第四磁场探测器(37)之间。
9.根据权利要求8所述的测量装置,其中,所述第一磁场探测器(11)和所述第二磁场探测器(13)布置在沿着传感器主轴线(21)的位置上,所述第三磁场探测器(35)和所述第四磁场探测器(37)布置在沿着传感器辅助轴线(43)的位置上,并且所述传感器主轴线(21)垂直于所述传感器辅助轴线(43)。
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