[发明专利]颗粒物排放低的织物过滤器在审

专利信息
申请号: 201880029902.4 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN110603086A 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 彼得·拉尔斯·尼尔森 申请(专利权)人: 通用电气技术有限公司
主分类号: B01D46/02 分类号: B01D46/02;B01D46/42;B01D46/44;B01D46/46
代理公司: 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 马爽;臧建明
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 织物过滤器系统 污染气体 织物滤袋 时间段 阻尼器系统 清洁气体 清洁 颗粒物 可用 过滤 配备
【权利要求书】:

1.一种工厂(10),其特征在于

织物过滤器系统(26),所述织物过滤器系统包括一个或多个织物过滤器室(30),其中每个织物过滤器室(30)包括多个织物滤袋(32),配备有一个或多个可移动阻尼器面板(102)的入口(104),或者配备有一个或多个可移动阻尼器面板(102)的出口(106);以及控制装置(56),所述控制装置可操作以至少部分地基于一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量来影响所述一个或多个阻尼器面板(102)的定位。

2.根据权利要求1所述的工厂(10),其中所述一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量通过定时器(57)、一个或多个压力传感器(58)或一个或多个温度传感器(60)来测量。

3.根据权利要求1或2所述的工厂(10),其中所述一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量通过布置在所述一个或多个织物过滤器室(30)内的一个或多个传感器(58,60)来测量。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的工厂(10),其中所述一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量通过布置在所述多个织物滤袋(32)的上游或下游的所述一个或多个织物过滤器室(30)内的一个或多个传感器(58,60)来测量。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的工厂(10),其中所述控制装置(56)影响所述一个或多个阻尼器面板(102)的定位,以控制从所述入口(104)到所述出口(106)流过所述一个或多个织物过滤器室(30)的污染气体速度。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的工厂(10),其中所述一个或多个阻尼器面板(102)定位在相对闭合位置,以使污染气体速度为约5m/h至约50m/h、或约10m/h至约40m/h的污染气体在从清洁所述多个织物滤袋(32)直到所述多个织物滤袋(32)的外表面(32B)上的尘饼形成的时间段内流过所述一个或多个织物过滤器室(30)。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的工厂(10),其中所述一个或多个阻尼器面板(102)定位在相对打开位置,以使污染气体速度为约40m/h至约120m/h、或约50m/h至约130m/h的污染气体在从所述多个织物滤袋(32)的外表面(32B)上的尘饼形成直到清洁所述多个织物滤袋(32)的时间段内流过所述一个或多个织物过滤器室(30)。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的工厂(10),其中所述一个或多个阻尼器面板(102)定位在闭合位置,以使污染气体速度为约零的污染气体在清洁所述多个织物滤袋(32)期间流过所述一个或多个织物过滤器室(30)。

9.一种方法,包括:

将织物过滤器系统(26)配备有一个或多个可移动阻尼器面板(102),所述过滤器系统包括一个或多个织物过滤器室(30),其中每个织物过滤器室(30)包括多个织物滤袋(32)、入口(104)和出口(106);以及

使用控制装置(56)至少部分地基于一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量来控制所述一个或多个阻尼器面板(102)的定位。

10.根据权利要求9所述的方法,其中所述一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量通过定时器(57)、一个或多个压力传感器(58)或一个或多个温度传感器(60)来测量。

11.根据权利要求9或10所述的方法,其中所述一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量通过布置在所述一个或多个织物过滤器室(30)内的一个或多个传感器(58,60)来测量。

12.根据权利要求9至11中任一项所述的方法,其中所述一个或多个织物滤袋(32)尘饼形成测量通过布置在所述多个织物滤袋(32)的上游或下游的所述一个或多个织物过滤器室(30)内的一个或多个传感器(58,60)来测量。

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