[发明专利]粒子测量装置和粒子测量方法有效

专利信息
申请号: 201880025094.4 申请日: 2018-03-30
公开(公告)号: CN110573855B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 近藤郁;田渕拓哉;坂东和奈;加藤晴久;松浦有祐 申请(专利权)人: 理音株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N21/05;G01P3/36
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 崔迎宾;李雪春
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 粒子 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种粒子测量装置,其特征在于,

所述粒子测量装置包括:

流动池,包括试样流体的流道,所述试样流体包含粒子;

光源,输出光;

照射光学系统,用来自所述光源的所述光照射所述流道中的所述试样流体;

第一拍摄部,在所述流道的延长方向上,从与所述试样流体的流动方向正对的位置或与所述试样流体的流动方向相反的位置拍摄来自所述光通过的所述流道内的检测区域中的所述粒子的散射光;以及

粒径确定部,根据由所述第一拍摄部以规定的帧率拍摄到的所述粒子的多个静止图像,确定由布朗运动引起的所述粒子在与所述试样流体的流动方向垂直的平面上的二维方向的移动量,并根据所述二维方向的移动量确定所述粒子的粒径。

2.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

所述粒子测量装置还包括第二拍摄部,所述第二拍摄部从与所述流道的延长方向垂直的方向拍摄来自所述光通过的所述流道内的检测区域中的粒子的散射光,

所述粒径确定部根据由所述第一拍摄部以规定的帧率拍摄到的所述粒子的多个静止图像以及由所述第二拍摄部以规定的帧率拍摄到的所述粒子的多个静止图像,确定由布朗运动引起的所述粒子的三维方向的移动量,并根据所述三维方向的移动量确定所述粒子的粒径。

3.根据权利要求2所述的粒子测量装置,其特征在于,

所述第一拍摄部和所述第二拍摄部具有相同的帧率并彼此同步切换帧,

所述粒径确定部确定针对相同的粒子的由所述第一拍摄部拍摄到的静止图像以及由所述第二拍摄部拍摄到的静止图像,并确定由布朗运动引起的所述粒子的三维方向的移动量,并且根据所述三维方向的移动量确定所述粒子的粒径。

4.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

所述粒子测量装置还包括:

散射光强度确定部,根据所述粒子的图像确定所述粒子的散射光强度相当值;以及

分析部,根据由所述粒径确定部确定的所述粒径以及由所述散射光强度确定部确定的散射光强度相当值,分析所述粒子的特性。

5.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

所述流动池具有弯曲为L形的形状,

所述第一拍摄部从与所述检测区域中的流体的流动方向正对的位置进行拍摄。

6.根据权利要求5所述的粒子测量装置,其特征在于,

所述流动池在L形弯曲的部分具有球面状的凹部,

所述第一拍摄部通过所述凹部,拍摄来自所述检测区域中的所述粒子的散射光。

7.根据权利要求1所述的粒子测量装置,其特征在于,

所述粒子测量装置还包括分析部,所述分析部针对由所述粒径确定部确定的每个粒径,计数具有该粒径的粒子数量并计算个数浓度,并且计算每个任意的粒径区间的所述个数浓度的粒径分布。

8.一种粒子测量装置,其特征在于,

所述粒子测量装置包括:

流动池,包括试样流体的流道,所述试样流体包含粒子;

光源,输出光;

照射光学系统,用来自所述光源的所述光照射所述流道中的所述试样流体;

第一拍摄部;以及

粒径确定部,

所述第一拍摄部从与检测区域中的流体的流动方向正对的位置拍摄来自所述光通过的、距所述流道的弯曲位置为流速中的与所述流道垂直的弯曲方向的流速成分在平均流速的1%以上的范围内的所述检测区域中的所述粒子的散射光,

所述粒径确定部根据由所述第一拍摄部以规定的帧率拍摄到的所述粒子的多个静止图像以及所述检测区域中的所述试样流体在与流动方向垂直的平面上的二维方向的流速成分,确定由布朗运动引起的所述粒子的所述二维方向的移动量,根据所述二维方向的移动量确定所述粒子的粒径,当确定所述粒子的所述粒径时进行去除流体运动对所述二维方向的粒子的移动量的影响的修正。

9.一种粒子测量方法,其特征在于,

所述粒子测量方法包括:

用来自光源的光照射流动池所包括的流道内的试样流体;

在所述流道的延长方向上,从与所述试样流体的流动方向正对的位置或与所述试样流体的流动方向相反的位置拍摄来自所述光通过的所述流道内的检测区域中的粒子的散射光;

根据以规定的帧率拍摄到的所述粒子的多个静止图像,确定由布朗运动引起的所述粒子在与所述试样流体的流动方向垂直的平面上的二维方向的移动量,根据所述二维方向的移动量确定所述粒子的粒径。

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