[发明专利]离子分析装置及离子裂解方法

权利要求书

1.一种离子分析装置，使源自试样成分的离子在离子阱的内部裂解，对由此生成的产物离子进行分析，所述离子分析装置的特征在于，具备：

a)四极杆型的离子阱，其利用高频电场的作用来捕捉源自试样成分的离子；

b)电子照射部，其对被所述离子阱捕捉到的作为裂解对象的离子照射具有30eV以上的能量的电子，以使所述作为裂解对象的离子的价数增加；以及

c)裂解促进部，其在由所述电子照射部进行了电子的照射后，使与电子发生了相互作用的离子裂解。

2.根据权利要求1所述的离子分析装置，其特征在于，

所述裂解促进部通过不成对电子诱导型的裂解法使离子裂解。

3.根据权利要求1所述的离子分析装置，其特征在于，

还具备氢自由基供给部，该氢自由基供给部用于在所述电子照射部所进行的电子照射时或电子照射后向所述离子阱中导入氢自由基。

4.根据权利要求3所述的离子分析装置，其特征在于，

所述氢自由基供给部通过微波放电来生成氢自由基。

5.根据权利要求3所述的离子分析装置，其特征在于，

所述氢自由基供给部通过电感耦合型的高频放电来生成氢自由基。

6.根据权利要求3所述的离子分析装置，其特征在于，

通过使所述氢自由基与用于供给该氢自由基的流路或所述离子阱的壁面碰撞，来对所述氢自由基进行冷却。

7.根据权利要求3所述的离子分析装置，其特征在于，

所述氢自由基的温度为2000℃以下。

8.根据权利要求1所述的离子分析装置，其特征在于，

所述裂解促进部通过碰撞诱导裂解法使离子裂解。

9.根据权利要求1所述的离子分析装置，其特征在于，

还具备气体供给部，该气体供给部以使所述离子阱的内部的气压成为1×10^-3[Pa]以上的方式向该离子阱的内部导入规定的气体。

10.根据权利要求1所述的离子分析装置，其特征在于，

所述裂解促进部通过碰撞诱导裂解法使离子裂解，

在对由所述离子阱生成的产物离子进行质谱分析的质谱分析装置中，获取在向所述离子阱的内部导入了氢自由基时的产物离子谱、以及在不向该离子阱的内部导入氢自由基时的产物离子谱，利用这些产物离子谱来对试样中的成分进行解析。

11.一种离子分析装置，使源自试样成分的离子在离子阱的内部裂解，对由此生成的产物离子进行分析，所述离子分析装置的特征在于，具备：

a)四极杆型的离子阱，其利用高频电场的作用来捕捉源自试样成分的离子；

b)电子照射部，其对被所述离子阱捕捉到的作为裂解对象的离子照射具有30eV以上的能量的电子，以使所述作为裂解对象的离子的价数增加；

c)质谱分析部，其对通过照射所述电子而裂解得到的离子进行质谱分析，来获取质谱数据；

d)库，其收录有针对多个已知化合物通过对利用电子离子化法生成的离子进行质谱分析所得到的质谱数据；以及

e)质谱数据对照部，其将由所述质谱分析部得到的质谱数据与所述库中收录的所述已知化合物的质谱数据进行对照。

12.根据权利要求11所述的离子分析装置，其特征在于，

所述质谱数据对照部在将由质谱分析部得到的质谱数据与所述库中收录的所述已知化合物的质谱数据进行对照时，以容许预先决定的范围的质量误差的方式判定质量峰的位置的一致或不一致。

13.根据权利要求1或11所述的离子分析装置，其特征在于，

还具备电压产生部，该电压产生部对构成所述离子阱的至少一个电极施加矩形波状的高频电压，以形成用于在该离子阱的内部捕捉离子的电场。