[发明专利]原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法以及空隙率测定装置

权利要求书

1.原料的粒度分布测定装置，其对在用规定的筛孔直径的筛进行筛分后、在位于所述筛的下游侧的传送带上移动的原料的粒度分布进行测定，

所述原料包含比所述筛孔直径大的粗粒和用所述筛没有被筛尽的筛孔直径以下且附着于所述粗粒的细粒，

所述原料的粒度分布测定装置具有：

粗粒测定装置，其设于所述传送带的上方，取得表示所述原料的所述粗粒的粒度分布的信息；

细粒测定装置，其设于所述传送带的上方，取得表示所述原料的所述细粒的粒度分布的信息；以及

运算装置，其使用表示粗粒的粒度分布的信息来算出粗粒的粒度分布，使用表示细粒的粒度分布的信息来算出细粒的粒度分布，并使用所述粗粒的粒度分布和所述细粒的粒度分布来算出所述原料整体的粒度分布。

2.如权利要求1所述的原料的粒度分布测定装置，其中，

所述表示细粒的粒度分布的信息是原料的图像数据，

所述运算装置使用将所述图像数据的亮度平均而得到的平均亮度来算出所述细粒的粒度分布。

3.原料的粒度分布测定装置，其在用规定的筛孔直径的筛进行筛分后、对在传送带上移动的原料的粒度分布进行测定，所述原料的粒度分布测定装置具有：

粗粒测定装置，其取得表示粗粒的粒度分布的信息；

细粒测定装置，其取得表示细粒的粒度分布的信息；以及

运算装置，其使用所述表示粗粒的粒度分布的信息来算出粗粒的粒度分布，使用所述表示细粒的粒度分布的信息来算出细粒的粒度分布，并使用所述粗粒的粒度分布和所述细粒的粒度分布来算出所述原料整体的粒度分布，

所述细粒测定装置具备对来自所述原料的反射光进行分光而测定分光反射率的分光测定部，

所述细粒测定装置取得多个波长的分光反射率作为所述表示细粒的粒度分布的信息，

所述运算装置使用对所述多个波长的分光反射率实施主成分分析或者偏最小二乘法(PLS)而得到的预先确定的基底向量的得分来算出所述细粒的粒度分布。

4.原料的粒度分布测定方法，对在用规定的筛孔直径的筛进行筛分后、在位于所述筛的下游侧的传送带上移动的原料的粒度分布进行测定，

所述原料包含比所述筛孔直径大的粗粒和用所述筛没有被筛尽的筛孔直径以下且附着于所述粗粒的细粒，

所述原料的粒度分布测定方法包括下述步骤：

粗粒测定步骤，从所述传送带的上方取得表示所述原料的所述粗粒的粒度分布的信息；

细粒测定步骤，从所述传送带的上方取得表示所述原料的所述细粒的粒度分布的信息；

粗粒的粒度分布算出步骤，使用在所述粗粒测定步骤中取得的表示粗粒的粒度分布的信息来算出粗粒的粒度分布；

细粒的粒度分布算出步骤，使用在所述细粒测定步骤中取得的表示细粒的粒度分布的信息来算出细粒的粒度分布；以及

原料的粒度分布算出步骤，使用所述粗粒的粒度分布和所述细粒的粒度分布来算出所述原料整体的粒度分布。

5.如权利要求4所述的原料的粒度分布测定方法，其中，

在所述原料的粒度分布算出步骤中，将所述粗粒的粒度分布及所述细粒的粒度分布制成线性模型，将制成所述线性模型的粗粒的粒度分布和制成所述线性模型的细粒的粒度分布组合来算出原料整体的粒度分布。

6.空隙率测定装置，其对在用规定的筛孔直径的筛进行筛分后、在位于所述筛的下游侧的传送带上移动并在容器内堆积的原料的空隙率进行测定，

在所述传送带上移动的所述原料包含粒径比所述筛孔直径大的粗粒和用所述筛没有被筛尽的筛孔直径以下且附着于所述粗粒的粒径小的细粒，

所述空隙率测定装置具备：

粗粒测定装置，其设于所述传送带的上方，测定所述原料的所述粗粒的粒度分布；

细粒测定装置，其设于所述传送带的上方，测定所述原料的所述细粒的粒度分布；以及

运算装置，其使用由所述粗粒测定装置测定出的粗粒的粒度分布和由所述细粒测定装置测定出的细粒的粒度分布来算出在所述容器内堆积的状态下的所述原料的空隙率。