[发明专利]评估波前测量质量的方法和实现该方法的系统

权利要求书

1.一种用于评估光学波前的测量质量的方法，所述光学波前由待用户表征的对象发出，所述方法包括：

-获取光电信号，所述光电信号由通过波前传感器对所述待用户表征的对象发出的光学波前的测量而产生，所述波前传感器包括二维检测器；

-基于所述光电信号确定表征所述光电信号的寄生分量的至少一个参数；

-根据表征所述光电信号的寄生分量的所述至少一个参数来评估波前的测量的品质因数；

-根据所述品质因数向所述用户显示测量的质量水平，

其中，基于所述光电信号确定表征所述光电信号的寄生分量的至少一个参数包括：

-基于所述光电信号，计算给定数量的点处的波前的原始局部斜率；

-对所述原始局部斜率进行积分以获得波前的重构；

-对这样重构的波前进行求导，以便为每个原始局部斜率确定可积分分量，从而在每个所述点处形成可积分局部斜率的子集；

-在每个所述点处用所述原始局部斜率减去所述可积分局部斜率，以获得局部斜率的不可积分分量的子集，其中，表征所述光电信号的寄生分量的所述至少一个参数包括所述局部斜率的不可积分分量的子集。

2.根据权利要求1所述的用于评估光学波前的测量质量的方法，其中，基于所述局部斜率的不可积分分量的至少一部分的峰谷值或均方根值来评估所述品质因数。

3.根据权利要求1或2所述的用于评估光学波前的测量质量的方法，其中，基于所述局部斜率的不可积分分量的至少一部分的功率谱密度值来评估所述品质因数。

4.根据权利要求1所述的用于评估光学波前的测量质量的方法，其中，确定表征所述信号的寄生分量的参数包括以下步骤：

-识别未被可用于波前测量的信号覆盖的检测器的区域(321-324)；

-基于在所述区域中测量的信号确定表征所述信号的寄生分量的所述参数。

5.一种用于分析由待用户表征的对象发出的光学波前的方法，包括：

-获取光电信号，所述光电信号由通过波前传感器对所述待用户表征的对象发出的光学波前的测量而产生，所述波前传感器包括二维检测器；

-基于所述光电信号重构波前，以获得波前的测量；

-基于所述光电信号，根据前述权利要求中的任一项所述的方法评估波前的所述测量的品质因数，并且根据所述品质因数向所述用户显示所述质量水平。

6.一种用于通过直接测量来分析光学波前的系统(20)，包括：

-具有二维检测器(210)的波前传感器(21)，所述二维检测器(210)用于用户获取光电信号，所述光电信号允许测量由待用户表征的对象发出的波前；

-信号处理单元(22)，用于根据所述光电信号重构波前，所述信号处理单元还被配置为：

o基于所述光电信号确定表征所述光电信号的寄生分量的至少一个参数；

o根据表征所述光电信号的寄生分量的所述至少一个参数来评估波前的测量的品质因数；

-显示单元(23)，用于根据所述品质因数向所述用户显示测量的质量水平，

其中，基于所述光电信号确定表征所述光电信号的寄生分量的至少一个参数包括：

-基于所述光电信号，计算给定数量的点处的波前的原始局部斜率；

-对所述原始局部斜率进行积分以获得波前的重构；

-对这样重构的波前进行求导，以便为每个原始局部斜率确定可积分分量，从而在每个所述点处形成可积分局部斜率的子集；

-在每个所述点处用所述原始局部斜率减去所述可积分局部斜率，以获得局部斜率的不可积分分量的子集，其中，表征所述光电信号的寄生分量的所述至少一个参数包括所述局部斜率的不可积分分量的子集。

7.根据权利要求6所述的用于通过直接测量来分析光学波前的系统，其中，所述波前传感器包括位于二维检测器前面的微透镜或孔的矩阵，并且所述光电信号包括由每个所述微透镜或孔被待测波前照射形成的斑点阵列。

8.根据权利要求6所述的用于通过直接测量来分析光学波前的系统，其中，所述波前传感器包括位于二维检测器前面的相控光栅，并且所述光电信号包括由图形形成的斑点阵列，该图形由待测波前穿过所述相控光栅产生的波的干涉造成。