[发明专利]比色测定

权利要求书

1.一种用于在测定样品时增强光信号的装置，包括：

第一板、第二板、间隔件和光散射层，其中：

i．所述第一板和第二板可相对于彼此移动成不同的构造，包括开放构造和闭合构造，并且所述板在其各自的内表面上具有用于接触含有分析物的样品的样品接触区域；

ii．一个或两个板是柔性的；

iii. 第一板对于光是透明的；

iv．所述光散射层设置在所述第二板在其内表面上，所述光散射层具有粗糙拓扑结构并散射照射在其表面上的光；

v．所述间隔件具有预定的均匀高度，并且所述间隔件中的至少一个位于所述样品接触区域内；

vi．所述间隔件的高度大于所述光散射层的平均粗糙度并且小于200µm；

其中，在开放构造中，其中：两个板部分或完全分开，所述板之间的间距不通过所述间隔件调节，并且所述样品沉积在所述板中的一个或两个上；

其中，所述闭合构造是在所述样品在所述开放构造中沉积之后配置的，并且在所述闭合构造中：所述沉积的样品的至少一部分通过所述两个板压缩成连续层；

其中所述层的厚度由所述板的内表面限定并由所述板和间隔件调节。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述粗糙拓扑结构具有2µm-5µm范围内的平均粗糙度。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述粗糙拓扑结构具有凹凸不平、波浪状的粗糙表面或具有周期性或非周期性结构的纹理表面。

4.根据权利要求1或2所述的装置，所述光散射层由半透明白色材料制成，且具有10%-30%的透射率。

5.权利要求1所述的装置，进一步包括涂覆在其中一块板的干试剂。

6.一种测试设备，包括：

a）权利要求1-4任一所述装置；

b）相机；

c）光源；

d）外部镜头。

7.一种测试设备，包括：

a）权利要求5所述的装置；

b）相机，以及

c）光源。

8.一种用于分析样品的方法，包括以下步骤：

a）获得包含或疑似包含分析物的样品；

b）获得权利要求6或7所述的测试设备；

c）当所述板处于开放构造时，将所述样品沉积在所述装置的一个或两个板上；

d）将所述两个板放在一起，按压所述板成所述闭合构造，使所述样品在所述两个板之间形成液体层；

e）用所述光源的照射所述样品；

f）使用所述相机采集所述样品的图像；以及

g）基于所述图像对所述样品中的分析物进行分析，产生分析结果。

9.如权利要求8所述的方法，其中所述进行分析是分析所述图像的比色信号。

10.如权利要求1所述的装置，所述光散射层涂覆有金属膜。

11.如权利要求1所述的装置，其中所述光散射层可由反射率为至少50%、60%、70%、80%、90%、100%或在任意两个值之间的范围内的高反射率不透明白色材料制成。

12.如权利要求1所述的装置，其中所述光散射层的反射光谱在300nm到1000nm的波长范围内。

13.如权利要求1所述的装置，其中所述光散射层由具有80%反射率的高反射率不透明白色材料制成。

14.如权利要求1所述的装置，其中所述光散射层由不透明白色介电膜制成。

15.如权利要求1所述的装置，其中所述光散射层具有的算术平均粗糙度Ra为0.5µm-200µm、微凸体的平均间距Rsm0.5µm，以及轮廓的平均斜率RΔa为0.1的纹理表面。