[发明专利]电磁波测量装置以及电磁波测量方法

权利要求书

1.一种电磁波测量装置，其具备：

探光生成部，其生成两种波长的光作为探光，该两种波长的光是波长互不相同的两路光；以及

电光探针，其包括电光晶体，且接收被检测电磁波以及通过所述探光生成部生成的所述探光，

其中，在所述电光探针接收到所述被检测电磁波时，所述探光生成部使所述两种波长的光中的至少任意一个的频率变动，从而进行使所述探光的频率差变动的变动动作，

所述变动动作被设定成遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。

2.根据权利要求1所述的电磁波测量装置，其中，

在所述变动动作中，所述探光生成部使所述探光的频率差变动，以使所述探光的频率差与所述被检测电磁波的频率之间的差的变动幅度比所述被检测电磁波的频率的变动幅度小。

3.根据权利要求1或2所述的电磁波测量装置，其中，

在所述变动动作中，所述探光生成部使所述频率差变动，以使所述探光的频率差追随所述被检测电磁波的频率变动。

4.根据权利要求1或2所述的电磁波测量装置，其中，

所述电磁波测量装置还具备受光元件，该受光元件将基于从所述电光探针输出的光转换为电信号，

在所述变动动作中，所述探光生成部基于所述受光元件所转换的所述电信号的频率，调整所述频率差的变动。

5.根据权利要求1或2所述的电磁波测量装置，其中，

所述电磁波测量装置还具备：

光波长滤波器，其接收从所述电光探针输出的光；以及

受光元件，其将通过了所述光波长滤波器的光转换为电信号，

所述光波长滤波器的波段不包括所述探光中的任意一个光的频率。

6.根据权利要求1或2所述的电磁波测量装置，其中，

所述电磁波测量装置还具备：

偏振元件，其接收从所述电光探针输出的光；以及

受光元件，其将通过了所述偏振元件的光转换为电信号。

7.根据权利要求1或2所述的电磁波测量装置，其中，

所述电磁波测量装置具备多个所述电光探针，

各所述电光探针接收来自所述探光生成部的相同的所述探光。

8.根据权利要求1或2所述的电磁波测量装置，其中，

所述电磁波测量装置具备多个所述电光探针，

所述电磁波测量装置还具备：

多个光波长滤波器或多个偏振元件，它们与所述电光探针对应地进行设置，接收从对应的所述电光探针输出的光；

多个受光元件，它们与所述光波长滤波器或所述偏振元件对应地进行设置，将通过了对应的所述光波长滤波器或所述偏振元件的光转换为电信号；以及

检测部，其检测通过各所述受光元件转换的所述电信号的相位差。

9.一种电磁波测量方法，包括如下步骤：

生成两种波长的光作为探光，该两种波长的光是波长互不相同的两路光；以及

向包括电光晶体的电光探针提供所生成的所述探光，并且提供被检测电磁波，

其中，在生成所述探光的步骤中，在提供所述被检测电磁波的步骤中向所述电光探针提供了所述被检测电磁波时，使所述两种波长的光中的至少任意一个的频率变动，从而进行使所述探光的频率差变动的变动动作，

所述变动动作是遵照所述被检测电磁波的频率变动的规格的内容。