[发明专利]测量二次电池用电极中的孔隙分布的方法有效

专利信息
申请号: 201880014563.2 申请日: 2018-05-29
公开(公告)号: CN110352347B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 韩正勋 申请(专利权)人: 株式会社LG化学
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207;G01N1/30;G01N1/04;H01M4/13;H01M4/02;G01N1/28
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 黄丽娟;张云志
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 二次 电池 用电 中的 孔隙 分布 方法
【说明书】:

本发明提供一种测量二次电池用电极中的孔隙分布的方法,该方法可以容易地测量二次电池用电极内部的孔隙分布。

技术领域

本申请要求于2017年5月29日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2017-0065845的优先权和权益,该申请的全部内容通过引用并入本说明书中。

本发明涉及一种测量二次电池用电极中的孔隙分布的方法,该方法可以容易地测量二次电池用电极的内部的孔隙分布。

背景技术

二次电池主要由电极、隔板和电解液组成,电极分为负极和正极。由于诸如活性物质、导电物质和粘合剂的组成物质三维地分布在电极中,因此,在它们之间的间隙中存在多个孔隙。在二次电池中,电极中存在的孔隙充满电解液,由此成为离子等的通道。因此,由于孔隙的尺寸、数目、分布等影响离子的扩散性并且显著影响二次电池的性能,因此,精确地分析电极内部的孔隙分布是重要的。

然而,在现有技术中,难以观察电极的横截面上的孔隙分布,并且由于扫描电镜(SEM)具有深的焦点深度,因此,来自存在于孔隙底部的不同焦点平面上的电极内部的组成物质的信号同时被检测到,由此,存在实际的孔隙表示为在扫描电镜图像上电极内部的组成物质的问题,从而使得不能精确地分析电极内部的孔隙分布。

因此,需要一种能够清楚地区分电极内部的组成物质和孔隙并且同时分析电极内部的孔隙分布的方法。

[专利文献]

(专利文献1)韩国专利申请特许公开No.2014-0132956

发明内容

技术问题

做出本发明旨在提供一种测量二次电池用电极中的孔隙分布的方法,该方法通过将电极内部的组成物质与孔隙彼此清楚地区分,可以容易地分析电极内部的孔隙分布。

然而,本发明要解决的问题不限于上述问题,并且本领域技术人员从下面描述中可以清楚地理解未提及的其它问题。

技术方案

本发明的一个示例性实施方案提供一种测量二次电池用电极中的孔隙分布的方法,该方法包括:制备包含电极活性物质、粘合剂和导电物质的二次电池用电极;通过将包含硅的聚合物浸渍到所述二次电池用电极中来用包含硅的聚合物填充所述二次电池用电极内部的孔隙;通过用离子研磨装置的离子束照射所述二次电池用电极来制备电极横截面样品;通过使用能量分散X射线光谱仪检测所述电极横截面样品上存在的硅;以及通过分析映射有由能量分散X射线光谱仪检测到的硅的点的图像来确定孔隙分布。

有益效果

根据本发明的一个示例性实施方案的测量二次电池用电极中的孔隙分布的方法可以通过将电极的组成物质与孔隙彼此清楚地区分来确定电极内部的孔隙分布,从而准确地预测二次电池用电极的性能。

根据本发明的一个示例性实施方案,通过对粘合剂染色可以更精确地区分电极中的孔隙。

本发明的效果不限于上述效果,并且本领域技术人员从本申请的说明书和附图将清楚地理解未提及的效果。

附图说明

图1是示出根据本发明的一个示例性实施方案的在制备电极横截面样品中使用的离子研磨装置的图;

图2a是示出用于二次电池的两个负极的横截面的一组图,图2b是示出用于二次电池的两个负极的充电特性的图;

图3a是示出根据本发明的一个示例性实施方案的通过使用能量分散X射线光谱仪(EDS)得到的负极横截面样品的孔隙的EDS映射图像的图,图3b是示出通过将所述负极横截面样品的孔隙的EDS映射图像应用于图像处理而提取的图像的图;

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