[发明专利]光学调制器在审

专利信息
申请号: 201880013964.6 申请日: 2018-03-22
公开(公告)号: CN110494800A 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 余国民;A.J.齐尔基;张毅;D.J.汤姆森 申请(专利权)人: 洛克利光子有限公司;南安普敦大学
主分类号: G02F1/225 分类号: G02F1/225;G02F1/01
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 唐立;闫小龙<国际申请>=PCT/EP2
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 光学调制器 击穿电压 反向偏压 肋形波导 带间隧穿 模式操作 调制器 雪崩 倍增 施加
【权利要求书】:

1.一种操作光学调制器的方法,

所述光学调制器具有:

肋形波导,所述肋形波导包括为PIN或PN结的结,所述结具有击穿电压;

所述方法包括:

向所述结施加反向偏压,以便在所述结的所述击穿电压附近操作所述光学调制器;

通过增大所述反向偏压超过所述击穿电压,以雪崩倍增和/或带间隧穿模式操作所述调制器。

2.如权利要求1所述的方法,其中所述结的所述击穿电压小于12V。

3.如权利要求1所述的方法,其中所述结的所述击穿电压小于或等于6V。

4.如权利要求1所述的方法,其中所述结的所述击穿电压在2V与6V之间。

5.如任一前述权利要求所述的方法,其中所述调制器如权利要求7-30中任一项所述。

6.一种光学调制器,所述调制包括:

肋形波导,所述肋形波导包括:

P+掺杂区;

N+掺杂区;以及

本征区,所述本征区设置在所述P+掺杂区与所述N+掺杂区之间;

其中所述本征区的厚度在50nm与150nm之间,使得由所述P+掺杂区、所述N+掺杂区和所述本征区形成的PIN结具有小于12V的击穿电压,并且能以雪崩倍增模式操作。

7.如权利要求7所述的光学调制器,其中所述击穿电压小于或等于6V。

8.如权利要求7所述的光学调制器,其中所述击穿电压在2V与6V之间。

9.如权利要求7至9中任一项所述的光学调制器,其中所述肋形波导包括直立肋,所述直立肋的厚度在150nm和250nm之间。

10.如权利要求7至10中任一项所述的光学调制器,其中所述肋形波导包括直立肋,所述直立肋的宽度在400nm与500nm之间。

11.如权利要求7至11中任一项所述的光学调制器,其中所述P+掺杂区和所述N+掺杂区含有浓度在0.5×1018cm-3和5×1018cm-3之间的掺杂剂。

12.如权利要求7至12中任一项所述的光学调制器,其中所述本征区包括浓度在0.1×1016cm-3与1×1016cm-3之间的掺杂剂。

13.如权利要求7至13中任一项所述的光学调制器,所述光学调制器还包括与所述P+掺杂区相邻的P++掺杂区和与所述N+掺杂区相邻的N++掺杂区。

14.如权利要求14所述的光学调制器,其中所述P++掺杂区和所述N++掺杂区包括浓度大于1×1019cm-3的掺杂剂。

15.如权利要求7至13中任一项所述的光学调制器,其中所述N+掺杂区沿着所述肋状波导的直立肋的最上表面设置,并且其中所述调制器还包括与所述N+掺杂区接触的导电薄膜。

16.如权利要求16所述的光学调制器,其中所述调制器还包括与所述P+掺杂区相邻的P++掺杂区,所述P++掺杂区包括浓度大于1×1019cm-3的掺杂剂。

17.如权利要求16或17所述的光学调制器,其中所述导电薄膜由以下任一者形成:

掺杂单晶硅膜;

氧化铟锡(ITO)膜;或

氧化锌(ZnO)膜。

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