[发明专利]用于深沟槽内的低温选择性外延的方法及设备有效
申请号: | 201880010056.1 | 申请日: | 2018-02-06 |
公开(公告)号: | CN110249417B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 阿布舍克·杜贝;李学斌;华·春;芙洛拉·芳-松·张 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 深沟 低温 选择性 外延 方法 设备 | ||
1.一种用于处理半导体基板的群集工具,包括:
传送腔室;
预清洁腔室,所述预清洁腔室耦接到所述传送腔室;
等离子体清洁腔室,所述等离子体清洁腔室与所述传送腔室耦接;
沉积腔室,所述沉积腔室耦接到所述传送腔室;及
热处理腔室,所述热处理腔室耦接到所述传送腔室。
2.如权利要求1所述的群集工具,其中所述预清洁腔室和所述等离子体清洁腔室中的至少一个具有可操作以产生电中性自由基的电感耦合等离子体源。
3.如权利要求2所述的群集工具,其中所述电感耦合等离子体源是与所述预清洁腔室物理分离的远程等离子体源。
4.如权利要求1所述的群集工具,其中所述预清洁腔室具有使用He和NF3的电容耦合等离子体源。
5.如权利要求4所述的群集工具,其中所述预清洁腔室具有耦接到偏压RF电源的基板支撑件。
6.如权利要求1所述的群集工具,其中所述沉积腔室是外延腔室,所述外延腔室包括液体前驱物蒸发器。
7.如权利要求1所述的群集工具,进一步包括耦接到所述传送腔室的等离子体蚀刻腔室。
8.如权利要求2所述的群集工具,其中所述电感耦合等离子体源包括一组线圈天线。
9.如权利要求1所述的群集工具,其中所述沉积腔室是包括液体前驱物蒸发器的外延腔室,所述预清洁腔室是远程等离子体腔室,及所述等离子体清洁腔室包括电感耦合等离子体源,所述电感耦合等离子体源包含一组线圈天线。
10.一种用于处理半导体基板的群集工具,包括:
传送腔室,所述传送腔室耦接到负载锁定腔室;
第一清洁腔室,所述第一清洁腔室耦接到所述传送腔室,所述第一清洁腔室包括电容耦合等离子体源和耦接到偏压RF电源的基板支撑件;
第二清洁腔室,所述第二清洁腔室耦接到所述传送腔室,所述第二清洁腔室包括电感耦合等离子体源;
外延腔室,所述外延腔室耦接到所述传送腔室,所述外延腔室包括液体前驱物蒸发器;及
热处理腔室,所述热处理腔室耦接到所述传送腔室。
11.如权利要求10所述的群集工具,其中所述电容耦合等离子体源可操作以使用含有He和NF3的等离子体来将原生氧化物自所述基板去除。
12.如权利要求10所述的群集工具,其中所述电感耦合等离子体源可操作以产生含氢自由基。
13.如权利要求10所述的群集工具,其中所述电感耦合等离子体源包括一组线圈天线。
14.一种用于处理半导体基板的群集工具,包括:
传送腔室,所述传送腔室耦接到负载锁定腔室;
第一清洁腔室,所述第一清洁腔室耦接到所述传送腔室,所述第一清洁腔室包括远程等离子体源和加热气体分配板;
第二清洁腔室,所述第二清洁腔室耦接到所述传送腔室,所述第二清洁腔室包括具有一组天线线圈的电感耦合等离子体源;
外延腔室,所述外延腔室耦接到所述传送腔室,所述外延腔室包括液体前驱物蒸发器;及
热处理腔室,所述热处理腔室耦接到所述传送腔室。
15.如权利要求14所述的群集工具,其中所述热处理腔室是热氧化腔室。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造