[发明专利]用于在施加TTFields的同时在显微镜下观察细胞培养物的系统

权利要求书

1.一种用于在使用倒置显微镜观察样品并通过光源照射所述样品的同时向所述样品施加电场的装置，所述倒置显微镜具有载物台和物镜，所述装置包括：

底部面板，所述底部面板具有透明区域；

陶瓷侧壁，所述陶瓷侧壁附连到所述底部面板上，使得所述陶瓷侧壁和所述底部面板配合以形成用于容纳所述样品的容器，其中所述陶瓷侧壁附连到所述底部面板上的围绕所述透明区域的位置处，并且所述陶瓷侧壁具有至少一个外表面；

多个电极，所述多个电极设置在所述陶瓷侧壁的至少一个外表面上的选定位置处，使得当所述样品定位在所述容器中时，在所述多个电极之间电压的施加感应出穿过所述样品的电场；

多个电导体，其中所述多个电导体中的每个提供与所述多个电极中的相应一个的电接触；

设置在所述容器上的透明盖；以及

加热元件，所述加热元件用于加热所述透明盖以防止液体冷凝干扰所述样品的观察；

其中所述底部面板、所述透明区域和所述陶瓷侧壁的大小和形状被设定为便于将所述容器定位在所述倒置显微镜的所述载物台上，使得当所述样品定位在所述容器中时，从所述光源发出的光沿穿过所述样品、穿过所述透明区域并进入所述倒置显微镜的所述物镜的光路自由行进；以及

其中所述多个电极中的每个和所述多个电导体中的每个相对于所述透明区域定位，以便不干扰所述光路；

其中，所述陶瓷侧壁是圆柱形的且使用O形环安装到所述底部面板上，所述O形环具有（a）匹配皮氏培养皿的内径的外径和（b）匹配所述陶瓷侧壁的外径的内径，并且所述陶瓷侧壁卡在所述O形环中以提供过盈配合。

2.根据权利要求1所述的装置，还包括：至少一个热敏电阻，所述热敏电阻安装到所述陶瓷侧壁上的不干扰所述光路的位置处。

3.根据权利要求1所述的装置，还包括：至少一个热敏电阻，所述热敏电阻安装到所述底部面板上的不干扰所述光路的位置处。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述陶瓷侧壁使用粘合剂安装到所述底部面板上。

5.根据权利要求1所述的装置，其中所述陶瓷侧壁使用螺丝型接环安装到所述底部面板上，所述螺丝型接环被构造成将所述陶瓷侧壁和所述底部面板挤压在一起。

6.根据权利要求1所述的装置，其中所述底部面板是完全透明的。

7.根据权利要求1所述的装置，其中所述多个电极包括至少四个电极，所述至少四个电极设置在所述陶瓷侧壁的所述至少一个外表面上的选定位置处，使得当所述样品定位在所述容器中时，（a）在所述至少四个电极的第一子集之间电压的施加感应出在第一方向上穿过所述样品的电场，以及（b）在所述至少四个电极的第二子集之间电压的施加感应出在第二方向上穿过所述样品的电场，所述多个电导体包括至少四个电导体，并且所述至少四个电导体中的每个提供与所述至少四个电极中的相应一个的电接触。

8.根据权利要求7所述的装置，还包括：至少一个热敏电阻，所述热敏电阻安装到所述容器上的不干扰所述光路的位置处，

其中所述底部面板是完全透明的，所述陶瓷侧壁为圆柱形的，并且所述第二方向大致垂直于所述第一方向。

9.根据权利要求7所述的装置，其中所述第二方向大致垂直于所述第一方向。

10.根据权利要求1所述的装置，进一步包括:

至少一个温度传感器，用于测量所述容器的温度以及安装在不干扰所述光路的位置上；

其中，通过控制所述电场的强度和室温以维持所述样品的所期望的温度。

11.根据权利要求10所述的装置，其中，所述容器的所述温度通过算法控制，该算法确保所述容器的所述温度从所述室温增加到所述所期望的温度需要至少25分钟。