[发明专利]钢板在审
| 申请号： | 201880006811.9 | 申请日： | 2018-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN110177895A | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 竹田健悟;冈本力;中野克哉;铃木裕也;虻川玄纪 | 申请（专利权）人： | 日本制铁株式会社 |
| 主分类号： | C22C38/00 | 分类号： | C22C38/00;C21D9/46;C22C38/04;C22C38/60 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 张楠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 硬质层 内层 显微维氏硬度 钢板 纳米硬度 碳化物 体积率 总板 | ||
1.一种钢板，其特征在于，其是具备内层和位于该内层的一个或两个面上的硬质层的钢板，
所述硬质层以质量％计由下述元素构成：
C：0.08～0.40％、
Si：0.01～3.00％、
Mn：1.000～10.00％、
P：0.0001～0.0200％、
S：0.0001～0.0200％、
作为任意元素的、
Al：0.500％以下、
N：0.0200％以下、
Cr：2.000％以下、
Mo：1.000％以下、
O：0.0200％以下、
Ti：0.500％以下、
B：0.0100％以下、
Nb：0.500％以下、
V：0.500％以下、
Cu：0.500％以下、
W：0.100％以下、
Ta：0.100％以下、
Ni：0.500％以下、
Sn：0.050％以下、
Sb：0.050％以下、
As：0.050％以下、
Mg：0.0500％以下、
Ca：0.050％以下、
Y：0.050％以下、
Zr：0.050％以下、
La：0.050％以下、
Ce：0.050％以下、
剩余部分：Fe及杂质，
所述内层以质量％计由下述元素构成：C：0.001～0.200％、
Si：0.01～3.00％、
Mn：0.20～3.00％、
P：0.0001～0.0200％、
S：0.0001～0.0200％、
作为任意元素的、
Al：0.500％以下、
N：0.0200％以下、
Cr：2.000％以下、
Mo：1.000％以下、
O：0.0200％以下、
Ti：0.500％以下、
B：0.0100％以下、
Nb：0.500％以下、
V：0.500％以下、
Cu：0.500％以下、
W：0.100％以下、
Ta：0.100％以下、
Ni：0.500％以下、
Sn：0.050％以下、
Sb：0.050％以下、
As：0.050％以下、
Mg：0.0500％以下、
Ca：0.050％以下、
Y：0.050％以下、
Zr：0.050％以下、
La：0.050％以下、
Ce：0.050％以下、
剩余部分：Fe及杂质，
所述硬质层的厚度为20μm以上且总板厚的2/5以下，
所述硬质层的平均显微维氏硬度为400HV以上且低于700HV，
所述硬质层的N量为0.02％以下，
所述内层的平均显微维氏硬度为80HV以上且低于400HV，
所述内层中包含的碳化物的体积率低于2.00％，
所述硬质层的纳米硬度的标准偏差为2.00以下。
2.根据权利要求1所述的钢板，其特征在于，所述硬质层进一步以质量％计含有：
Al：0.001％以上且0.500％以下、
N：0.0001％以上且0.0200％以下、
Cr：0.001％以上且2.000％以下、
Mo：0.001％以上且1.000％以下、
O：0.0001％以上且0.0200％以下、
Ti：0.001％以上且0.500％以下、
B：0.0001％以上且0.0100％以下中的1种或2种以上，
所述内层进一步以质量％计含有：
Al：0.001％以上且0.500％以下、
N：0.0001％以上且0.0200％以下、
Cr：0.001％以上且2.000％以下、
Mo：0.001％以上且1.000％以下、
O：0.0001％以上且0.0200％以下、
Ti：0.001％以上且0.500％以下、
B：0.0001％以上且0.0100％以下中的1种或2种以上。
3.根据权利要求1或2所述的钢板，其特征在于，所述硬质层进一步以质量％计含有：
Nb：0.001％以上且0.500％以下、
V：0.001％以上且0.500％以下、
Cu：0.001％以上且0.500％以下、
W：0.001％以上且0.100％以下、
Ta：0.001％以上且0.100％以下、
Ni：0.001％以上且0.500％以下、
Sn：0.001％以上且0.050％以下、
Sb：0.001％以上且0.050％以下、
As：0.001％以上且0.050％以下、
Mg：0.0001％以上且0.0500％以下、
Ca：0.001％以上且0.050％以下、
Y：0.001％以上且0.050％以下、
Zr：0.001％以上且0.050％以下、
La：0.001％以上且0.050％以下、
Ce：0.001％以上且0.050％以下中的1种或2种以上，
所述内层进一步以质量％计含有：
Nb：0.001％以上且0.500％以下、
V：0.001％以上且0.500％以下、
Cu：0.001％以上且0.500％以下、
W：0.001％以上且0.100％以下、
Ta：0.001％以上且0.100％以下、
Ni：0.001％以上且0.500％以下、
Sn：0.001％以上且0.050％以下、
Sb：0.001％以上且0.050％以下、
As：0.001％以上且0.050％以下、
Mg：0.0001％以上且0.0500％以下、
Ca：0.001％以上且0.050％以下、
Y：0.001％以上且0.050％以下、
Zr：0.001％以上且0.050％以下、
La：0.001％以上且0.050％以下、
Ce：0.001％以上且0.050％以下中的1种或2种以上。
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