[发明专利]控制装置以及半导体装置有效
| 申请号: | 201880003973.7 | 申请日: | 2018-04-02 |
| 公开(公告)号: | CN109983679B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
| 发明(设计)人: | 赤羽正志 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
| 主分类号: | H02M1/00 | 分类号: | H02M1/00;H02M1/08;H02M7/48 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 金玉兰;王颖 |
| 地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 控制 装置 以及 半导体 | ||
1.一种控制装置,其特征在于,具备:
电流检测部,其检测与流过半导体元件的电流相对应的感测电流;
瞬态感测期间检测部,其若所述半导体元件导通则检测出所述感测电流的检测信号的瞬时的从上升到下降的瞬态感测期间;以及
控制部,其基于所述感测电流的检测信号,进行与所述瞬态感测期间的检测结果相对应的所述半导体元件的控制。
2.一种控制装置,其特征在于,具备:
电流检测部,其检测与流过半导体元件的电流相对应的感测电流;
瞬态感测期间检测部,其若所述半导体元件导通则检测出所述感测电流的检测信号的瞬时的从上升到下降的瞬态感测期间;以及
控制部,其基于所述感测电流的检测信号,进行与所述瞬态感测期间的检测结果相对应的所述半导体元件的控制,
所述瞬态感测期间检测部根据所述感测电流的检测信号与该检测信号的延迟信号之间的差分来检测所述检测信号的瞬时的上升和下降。
3.一种控制装置,其特征在于,具备:
电流检测部,其检测与流过半导体元件的电流相对应的感测电流;
瞬态感测期间检测部,其若所述半导体元件导通则检测出所述感测电流的检测信号的瞬时的从上升到下降的瞬态感测期间;以及
控制部,其基于所述感测电流的检测信号,进行与所述瞬态感测期间的检测结果相对应的所述半导体元件的控制,
所述瞬态感测期间检测部根据所述感测电流的检测信号的上升与下降之间的期间来检测所述瞬态感测期间。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的控制装置,其特征在于,
所述电流检测部检测所述感测电流流过电阻元件而产生的电位。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的控制装置,其特征在于,
在所述感测电流的检测信号超过预先设定的阈值并且所述瞬态感测期间超过了预先设定的时间的情况下,所述控制部关断所述半导体元件。
6.根据权利要求4所述的控制装置,其特征在于,
在所述感测电流的检测信号超过预先设定的阈值并且所述瞬态感测期间超过了预先设定的时间的情况下,所述控制部关断所述半导体元件。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的控制装置,其特征在于,
所述瞬态感测期间检测部检测出所述感测电流的检测信号的上升期间、下降期间、以及处于所述上升期间与所述下降期间之间的瞬态感测期间,
所述控制部根据在所述瞬态感测期间所述感测电流的检测信号超过了预先设定的第一阈值的情况而检测过电流。
8.根据权利要求4所述的控制装置,其特征在于,
所述瞬态感测期间检测部检测出所述感测电流的检测信号的上升期间、下降期间、以及处于所述上升期间与所述下降期间之间的瞬态感测期间,
所述控制部根据在所述瞬态感测期间所述感测电流的检测信号超过了预先设定的第一阈值的情况而检测过电流。
9.根据权利要求5所述的控制装置,其特征在于,
所述瞬态感测期间检测部检测出所述感测电流的检测信号的上升期间、下降期间、以及处于所述上升期间与所述下降期间之间的瞬态感测期间,
所述控制部根据在所述瞬态感测期间所述感测电流的检测信号超过了预先设定的第一阈值的情况而检测过电流。
10.根据权利要求6所述的控制装置,其特征在于,
所述瞬态感测期间检测部检测出所述感测电流的检测信号的上升期间、下降期间、以及处于所述上升期间与所述下降期间之间的瞬态感测期间,
所述控制部根据在所述瞬态感测期间所述感测电流的检测信号超过了预先设定的第一阈值的情况而检测过电流。
11.根据权利要求7所述的控制装置,其特征在于,
在所述上升期间内以及所述下降期间内,所述控制部抑制过电流的检测。
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