[发明专利]指纹识别方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号: | 201880001576.6 | 申请日: | 2018-09-12 |
| 公开(公告)号: | CN109313705B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
| 发明(设计)人: | 冉耕;王信亮;李洪生;李丹 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 朱颖;刘芳 |
| 地址: | 518045 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 指纹识别 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种指纹识别方法,其特征在于,包括:
获取N帧指纹图像,N为大于1的整数;
判断所述N帧指纹图像是否存在固定残留区域;
若所述N帧指纹图像存在固定残留区域,则确定所述固定残留区域对所述N帧指纹图像中的最后一帧指纹图像引起的指纹识别过程的至少一个影响因子;
若所述至少一个影响因子大于各自对应的预设阈值,则确定所述最后一帧指纹图像无法触发正常的指纹识别结果,其中,所述最后一帧指纹图像为当前采集到的指纹图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断所述N帧指纹图像是否存在固定残留区域,包括:
对所述N帧指纹图像分别进行二值化处理,得到N组第一二值化图像,每组所述第一二值化图像包括第一黑色二值化图像和第一白色二值化图像;
对N帧所述第一黑色二值化图像中的各像素点的像素值进行与操作,得到第二黑色二值化图像,并对N帧所述第一白色二值化图像中的各像素点的像素值进行与操作,得到第二白色二值化图像;
对所述第二黑色二值化图像中的各像素点的像素值和所述第二白色二值化图像中对应的各像素点的像素值进行或操作,得到第二二值化图像;
若所述第二二值化图像中包括满足预设条件的至少一个连通区域,则确定所述N帧指纹图像存在所述固定残留区域,其中所述固定残留区域由所述至少一个连通区域组成;
其中,所述预设条件为所述至少一个连通区域的面积总和大于第一预设面积。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对N帧所述第一黑色二值化图像中的各像素点的像素值进行与操作,得到第二黑色二值化图像,并对N帧所述第一白色二值化图像中的各像素点的像素值进行与操作,得到第二白色二值化图像之前,还包括:
删除所述第一黑色二值化图像中面积小于第二预设面积的连通区域,并删除所述第一白色二值化图像中面积小于第三预设面积的连通区域。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述第二黑色二值化图像中的各像素点的像素值和所述第二白色二值化图像中对应的各像素点的像素值进行或操作,得到第二二值化图像之前,还包括:
删除所述第二黑色二值化图像中面积小于第四预设面积的连通区域,并删除所述第二白色二值化图像中面积小于第三预设面积的连通区域。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述固定残留区域对所述N帧指纹图像中的最后一帧指纹图像引起的指纹识别过程的至少一个影响因子,包括:
获取所述最后一帧指纹图像对应的几何变换矢量信息;
将所述第二二值化图像作为残留纹路模板和残留纹路样本;
根据所述几何变换矢量信息调整所述残留纹路模板和所述残留纹路样本的相对位置;
计算经过相对位置调整之后的残留纹路模板和残留纹路样本的相似度,并将所述相似度作为一个所述影响因子。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述计算经过相对位置调整之后的残留纹路模板和残留纹路样本的相似度,包括:
确定经过相对位置调整之后的残留纹路模板和残留纹路样本的重叠区域;
确定第一集合、第二集合和第三集合,并确定所述第一集合中的元素占所述第一集合、所述第二集合和所述第三集合中的总元素的比例,将所述比例作为所述相似度;
其中,所述第一集合中的每个元素位于所述重叠区域中,且该元素在经过相对位置调整之后的残留纹路模板中是白色像素点,在经过相对位置调整之后的残留纹路样本中的黑色像素点;所述第二集合中的每个元素位于所述重叠区域中,且该元素在经过相对位置调整之后的残留纹路模板中是黑色像素点,在经过相对位置调整之后的残留纹路样本中的白色像素点;所述第三集合中的每个元素位于所述重叠区域中,且该元素在经过相对位置调整之后的残留纹路模板中是白色像素点,在经过相对位置调整之后的残留纹路样本中的白色像素点。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述获取所述最后一帧指纹图像对应的几何变换矢量信息,包括:
根据所述最后一帧指纹图像和已存在的指纹图像模板,得到所述最后一帧指纹图像对应的几何变换矢量信息。
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